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张健中

作品数：2 被引量：5H指数：1
供职机构：哈尔滨工程大学理学院更多>>
发文基金：黑龙江省自然科学基金更多>>
相关领域：自动化与计算机技术更多>>

合作作者

文献类型

  • 1篇期刊文章
  • 1篇会议论文

领域

  • 1篇自动化与计算...

主题

  • 2篇对数拟合法
  • 2篇荧光
  • 2篇荧光寿命
  • 2篇数据拟合
  • 2篇加权
  • 1篇光学
  • 1篇光学传感器
  • 1篇感器
  • 1篇传感
  • 1篇传感器

机构

  • 2篇哈尔滨工程大...

作者

  • 2篇张健中
  • 2篇相艳荣
  • 2篇孙伟民
  • 1篇苑立波
  • 1篇赵磊
  • 1篇刘强

传媒

  • 1篇液晶与显示
  • 1篇中国光学学会...

年份

  • 2篇2004
共 2 条 记 录，以下是 1-2
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排序方式：
利用加权对数拟合法求解荧光寿命
寿命的检测是荧光光学传感器的核心内容，国际上发展了多种手段。本文介绍了一种加权的对数拟合法，可以得到和非线性函数标准拟合方法--Levenburg-Marquardt 方法非常接近的结果，但拟合时间大大缩短。文中给出了具...
孙伟民张健中张杨相艳荣苑立波
关键词：数据拟合荧光寿命对数拟合法光学传感器
光纤荧光传感器衰减寿命的加权对数拟合法被引量：5
2004年
荧光寿命的检测是荧光光学传感器的核心内容,国际上尝试了多种方法来拟合这种理论上为单指数衰减信号的荧光衰减曲线。这些方法包括非线性函数标准拟合方法,即Leven burg Marquardt方法,以及Prony方法、FFT方法,对数拟合法等等。为了克服在实际应用中发生的信号退化,需要在测量信号衰减寿命的同时测量信号的初始强度。文章介绍了一种加权的对数拟合法,经计算机仿真及实际数据测试均可以得到和Levenburg Marquardt方法非常接近的结果,且拟合时间大大缩短,测量稳定性大大提高。仿真测试及具体实验测试结果显示了这种方法的有效性。该方法不仅与Levenburg Marquardt方法的偏差曲线非常相似,而且实验测得的荧光寿命与Levenburg Marquardt方法偏差在0.2%以内。
孙伟民张杨张健中相艳荣赵磊刘强李颖娟
关键词：荧光寿命数据拟合对数拟合法
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