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徐进

作品数:6 被引量:0H指数:0
供职机构:中国科学院金属研究所更多>>
相关领域:一般工业技术金属学及工艺自动化与计算机技术更多>>

文献类型

  • 3篇会议论文
  • 3篇专利

领域

  • 2篇金属学及工艺
  • 2篇一般工业技术
  • 1篇自动化与计算...

主题

  • 3篇导电
  • 3篇导电材料
  • 3篇低维
  • 3篇电磁驱动
  • 3篇尺寸效应
  • 2篇电阻
  • 2篇电阻变化
  • 2篇弯曲疲劳性能
  • 2篇微尺度
  • 2篇裂纹萌生与扩...
  • 1篇单晶铜
  • 1篇多晶
  • 1篇应变梯度
  • 1篇数字万用表
  • 1篇铜箔
  • 1篇万用表
  • 1篇位错
  • 1篇位错结构
  • 1篇螺旋测微器
  • 1篇金属

机构

  • 6篇中国科学院金...

作者

  • 6篇张广平
  • 6篇徐进
  • 3篇宋竹满
  • 3篇张滨

传媒

  • 1篇第16届全国...
  • 1篇第十四届全国...
  • 1篇第十五届全国...

年份

  • 1篇2014
  • 1篇2013
  • 3篇2012
  • 1篇2010
6 条 记 录,以下是 1-6
排序方式:
一种低维导电材料的弯曲疲劳可靠性测试方法
本发明涉及对低维导电材料的疲劳性能测试系统和测试方法的建立,具体为一种低维导电材料的弯曲疲劳可靠性的测试系统和测试方法,解决现有技术中存在的对导电薄膜材料疲劳寿命测量误差大、无法准确测量裂纹的萌生寿命等问题。该测试系统由...
张广平徐进张滨宋竹满
文献传递
基于反应-扩散模型的微尺度金属疲劳行为及其尺寸效应
一些研究表明,材料的晶粒尺寸[1]、几何尺度[2]以及因塑性应变梯度引入的几何必要位错[3]均会显著影响多晶金属的疲劳性能.为了深入理解微尺度金属材料的疲劳行为,本研究基于Walgraef 和Aifantis 提出的反应...
徐进戴彩云张广平
关键词:微尺度位错结构应变梯度
一种低维导电材料的弯曲疲劳可靠性测试系统及测试方法
本发明涉及对低维导电材料的疲劳性能测试系统和测试方法的建立,具体为一种低维导电材料的弯曲疲劳可靠性的测试系统和测试方法,解决现有技术中存在的对导电薄膜材料疲劳寿命测量误差大、无法准确测量裂纹的萌生寿命等问题。该测试系统由...
张广平徐进张滨宋竹满
微米尺度多晶铜箔的疲劳性能及其尺寸效应
微米尺度金属广泛应用于各种微机械系统中,对其力学性能特别是疲劳性能的评价至关重要。本研究采用悬臂梁动态弯曲方法对具有不同厚度(190~20μm)的轧制和退火多晶铜箔进行了恒总应变幅控制的对称弯曲疲劳实验,并对样品的疲劳损...
戴采云徐进张广平
关键词:铜箔尺寸效应
文献传递
微米尺度单晶铜的疲劳行为及其尺寸效应
<正>当材料的微观结构尺度或几何尺度减小至微米及其以下时,材料的强度、塑性及疲劳性能将发生明显的变化。深入理解微尺度金属材料的力学行为及其尺寸效应对于微/纳米器件的可靠性设计及微尺度材料基本变形机制的理解具有重要的意义。...
张广平戴彩云徐进
关键词:微尺度尺寸效应
文献传递
一种低维导电材料的弯曲疲劳可靠性测试系统
本实用新型涉及对低维导电材料的疲劳性能测试系统的建立,具体为一种低维导电材料的弯曲疲劳可靠性的测试系统,解决现有技术中存在的对导电薄膜材料疲劳寿命测量误差大、无法准确测量裂纹的萌生寿命等问题。该测试系统由电磁驱动部分、疲...
张广平徐进张滨宋竹满
文献传递
共1页<1>
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