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曹福全

作品数:5 被引量:3H指数:1
供职机构:华东师范大学更多>>
发文基金:上海市科学技术委员会资助项目国家自然科学基金“上海-应用材料研究与发展”基金更多>>
相关领域:电子电信电气工程更多>>

文献类型

  • 2篇期刊文章
  • 2篇专利
  • 1篇学位论文

领域

  • 2篇电子电信
  • 1篇电气工程

主题

  • 2篇亚微米
  • 2篇亚微米工艺
  • 2篇深亚微米
  • 2篇深亚微米工艺
  • 2篇微米工艺
  • 2篇芯片
  • 2篇金属
  • 1篇单晶
  • 1篇单晶材料
  • 1篇电极
  • 1篇电流比
  • 1篇动态信道
  • 1篇动态信道分配
  • 1篇信道
  • 1篇信道分配
  • 1篇信道性能
  • 1篇信道资源
  • 1篇亚微米器件
  • 1篇蒸发法
  • 1篇深亚微米器件

机构

  • 5篇华东师范大学
  • 1篇上海集成电路...

作者

  • 5篇曹福全
  • 2篇王有平
  • 2篇张宁
  • 2篇石艳玲
  • 2篇刘婧
  • 1篇郁可
  • 1篇张泰然
  • 1篇杨德仁
  • 1篇韩定定
  • 1篇姚萌
  • 1篇陈大为
  • 1篇朱自强
  • 1篇唐深群
  • 1篇王勇
  • 1篇叶红波
  • 1篇雷玮
  • 1篇黄浩
  • 1篇温秀芝

传媒

  • 1篇电子器件
  • 1篇微电子学

年份

  • 5篇2008
5 条 记 录,以下是 1-5
排序方式:
一种基于宏观尺度ZnO单晶材料的气体传感器
本发明涉及一种基于宏观尺度ZnO单晶材料的气体传感器,属于传感器制造的技术领域。包括:基底、金属电极层、传感导电体和外接电路,其中传感导电体为宏观尺度ZnO单晶材料,通过热蒸发法大规模生产的宏观尺度ZnO单晶材料,该材料...
张宁郁可雷玮王有平曹福全朱自强
文献传递
金属线宽与间距渐变的片上螺旋电感设计规则研究被引量:2
2008年
在分析片上螺旋电感的磁场分布及射频损耗机制的基础上,研究了电感的金属线宽及线圈间距的变化对电感性能的影响,在大量数值分析基础上提出了金属线宽与间距之和不变,而金属线宽与间距之比从外圈到内圈逐渐减小的渐变型片上螺旋电感,并得到了实验验证,多组样品的测试结果与数值分析结果相吻合,以2.4GHz频段处为例,在高阻硅衬底上制备的5nH渐变结构电感的品质因子Q为11,比具有相同外径和电感值的固定金属线宽及间距的传统电感高19.6%。
刘婧石艳玲曹福全唐深群陈大为黄浩叶红波王勇薛琳艳
关键词:片上螺旋电感品质因子
一种基于遗传算法的动态信道分配方法
本发明利用遗传算法实现动态信道分配(DMA)。相比,此非线性方法更符合现实环境的非线性特点;而且适合并行运算;并能灵活移植,以适应多种无线信道分配技术;本发明的另一个特点是集体评估信道性能,均衡信道资源分配,较好的提高了...
王有平姚萌张宁韩定定杨德仁张泰然曹福全
文献传递
深亚微米工艺下芯片的差分静态电流测试分析
2008年
在分析深亚微米工艺下芯片的差分静态电流(ΔIddq)测试原理的基础上,提出了一套深亚微米工艺下芯片的ΔIddq辅助测试解决方案。通过样本芯片,检验了ΔIddq测试方法的有效性;并根据检验结果,提出了Δ归一化的改进技术。经验证,这种优化后的ΔIddq辅助测量技术可有效筛选出功能测试不能覆盖的故障类型,提高了测试覆盖率。
曹福全石艳玲陈哲甘甜温秀芝刘婧
关键词:深亚微米器件
深亚微米工艺下芯片的IDDQ测试技术的研究及应用
IDDQ测试理论一经提出,便引起了集成电路领域的广泛关注。作为有效的VLSI测试手段,IDDQ测试在检测芯片的物理缺陷,提高测试覆盖率,裸芯片的筛选,芯片的老化检验等方面发挥着巨大作用。 深亚微米时代的IDDQ...
曹福全
关键词:电流比归一化
文献传递
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