李建欣
- 作品数：321 被引量：430H指数：11
- 供职机构：南京理工大学更多>>
- 发文基金：国家自然科学基金国家教育部博士点基金中央高校基本科研业务费专项资金更多>>
- 相关领域：机械工程理学电子电信自动化与计算机技术更多>>
- 一种斐索波长计干涉腔的腔长定标方法
- 本发明公开了一种斐索波长计干涉腔的腔长定标方法，包括：采集两个已知波长的激光通过两个斐索干涉腔后的干涉条纹图，提取出干涉信号I<Sub>1</Sub>和I<Sub>2</Sub>；提取出两干涉条纹的小数初相位<Image...
- 李建欣杨坤刘一轩
- 基于折射率方向导数的自由梯度折射率介质的自适应光线追迹方法
- 本发明公开了一种基于折射率方向导数的自由梯度折射率介质的自适应光线追迹方法，包括：根据折射率分布以及光线初始状态获得合理的初始步长；使用步长依据光线方程求解光线前进一步后的位置和方向；判断当前位置是否超出器件边界，若超出...
- 李建欣于彩芸宗毅
- 可调焦大口径准直物镜调整架
- 本发明公开了一种可以灵活调焦的大口径准直物镜调整架，它是由准直物镜装夹机构和轴向可调的物镜座组件组成，准直物镜装夹组件可以在物镜座组件中的导轨和定位轴上做轴向的精密运动，实现准直物镜在光轴方向的灵活调焦；本发明采用丝杠结...
- 朱日宏沈华李建欣陈磊何勇高志山王青郭仁慧乌兰图雅赵洪发冯海友
- 光学材料光学均匀性的波长调谐两步绝对测量法被引量：1
- 2012年
- 光学均匀性是光学材料的重要指标,目前高精度的测量方法一般采用绝对测量法,而该方法步骤繁琐,容易受环境影响。根据波长移相干涉仪的移相特点,提出了测量光学材料光学均匀性的波长调谐两步绝对测量法。该方法在波长移相干涉仪中通过平行平板放入测量和空腔测量两个步骤得到平行平板的光学均匀性。在模拟仿真验证方法的正确性后,进行了实验研究,并与传统的绝对测量法的测量结果进行比较。结果表明,波长调谐两步绝对测量法可用于测量平行平板的光学均匀性,且测量步骤简单,精度较高。
- 李建欣郭仁慧朱日宏陈磊何勇
- 关键词：波长调谐光学均匀性
- 一种光纤导出式的干涉仪激光光源系统
- 一种光纤导出式的干涉仪激光光源系统包括：激光光源、耦合透镜、耦合调整系统、光纤、光纤滤波系统、激光出射端口。从激光器出来的光束入射到耦合透镜上，产生的汇聚光束耦合导入光纤，或者先通过一个由电机驱动的旋转毛玻璃后再耦合导入...
- 朱日宏王小锋李建欣季荣陈磊何勇郭仁慧沈华马骏陈日清
- 文献传递
- 基于移相信号调制的光纤光栅传感调制解调方法及装置
- 本发明公开了一种基于移相信号调制的光纤光栅传感调制解调方法及装置，包括激光光源、隔离器、光开关、相位调制器、环形器、光纤光栅组、信号发生器、光电转换器、数据采集模块和数据处理模块，利用光开关，对激光光源进行调制，产生脉冲...
- 王青王晓烨任仲杰朱日宏王海林李建欣
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- 基于像面干涉的显微高光谱成像方法
- 随着成像光谱技术和显微技术的发展,将成像光谱技术与显微技术相结合,形成显微光谱成像系统,正逐渐成为研究的热点。显微光谱成像技术可对生物组织、精细结构等进行显微观测,同时获取目标的图像维信息和光谱维信息。与传统的显微成像方...
- 周伟李建欣孟鑫姚良涛
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- 高光谱Mueller成像装置及其成像方法
- 本发明公开了一种高光谱Mueller成像装置及其成像方法，包括沿第一光路依次放置的宽光谱光源、准直物镜、偏振态发生器，以及沿第二光路依次放置前置光学系统、偏振态分析器、双折射剪切器、检偏器、后置成像物镜和面阵探测器。由宽...
- 李建欣刘杰许逸轩柏财勋袁恒
- 文献传递
- 一种高空间分辨率的全斯托克斯偏振调制成像分束器
- 本发明公开了一种高空间分辨率的全斯托克斯偏振调制成像分束器，包括沿入射光方向依次放置的部分偏振分光棱镜、高反镜、第一相位延迟器、第二相位延迟器和Wollaston棱镜。所有光学元件相对于仪器底座平面同轴等高；部分偏振分光...
- 李建欣柏财勋周建强沈燕
- 基于双折射偏振干涉的高光谱成像方法
- <正>干涉型高光谱成像技术由于其优异的光通量、光谱分辨率和空间分辨率特性,在众多的光谱成像技术中占有重要位置,在生物医疗、环境监测、精准农业、资源勘探和食品安全等领域具有很大的应用潜力。本文提出了一种基于双折射横向剪切干...
- 柏财勋李建欣沈燕
- 文献传递
