蒋烨平
- 作品数：5 被引量：2H指数：1
- 供职机构：中国科学院物理研究所更多>>
- 发文基金：国家自然科学基金国家重点基础研究发展计划更多>>
- 相关领域：一般工业技术理学电气工程更多>>
- 静电力显微镜测量材料纳米微区电学性质的研究
- ＜正＞对纳米材料的电学性质表征是材料物理化学中非常重要的一个方面。静电力显微镜（EFM）是研究纳米晶体,纳米线等纳米材料的电学和力学性质的一种强有力工具,例如样品表面电荷分布,纳米器件的电场和电势分布,铁电相转变特性,介...
- 戚桂村蒋烨平杨延莲裘晓辉王琛
- 文献传递
- 拓扑绝缘体Bi2Se3薄膜中Fe原子掺杂的STM研究
- ＜正＞在拓扑绝缘体研究领域,磁性拓扑绝缘体的制备和性质表征是实现量子化反常霍尔效应的前提条件和实验基础[1]。利用生长在SiC（0001）单晶上的双层石墨烯（graphene）衬底,我们用分子束外延（MBE）技术制备了原...
- 宋灿立蒋烨平王以林李志王立莉何珂陈曦马旭村薛其坤
- 关键词：拓扑绝缘体扫描隧道显微镜
- 文献传递
- 三维拓扑绝缘体Sb2Te3薄膜费米面的调节,朗道量子化及厚度极限
- 蒋烨平薛其坤王以林陈牧李志宋灿立王立莉何珂陈曦马旭村
- 关键词：拓扑绝缘体色散关系
- 纳米结构电学性质的静电力显微镜研究方法被引量：2
- 2011年
- 纳米尺度的材料具有许多不同于宏观体材料的奇特的物理和化学特性.了解纳米结构的物性随材料尺寸及形状的变化关系,对于设计和合成具有特定功能的纳米材料有重要的指导意义.静电力显微镜技术为研究微纳米尺度下材料的电学特性提供了强有力的工具.文章介绍了这种测量技术的基本原理,并列举了几种在静电力显微镜基础上发展起来的纳米材料电学性质的表征方法,包括探针特征电容的标定、表面电荷密度测量、薄膜材料中载流子密度测定等.这些实验方法扩展了静电力显微镜的应用领域,为深入研究纳米材料的性质和纳米器件的功能结构提供了丰富的技术手段.
- 张冬冬王锐蒋烨平戚桂村王琛裘晓辉
- 关键词：介电常数载流子密度
- 拓扑绝缘体Sb2Te3薄膜的生长及其STM研究
- ＜正＞拓扑绝缘体因其受拓扑保护的表面态[1-3]而备受关注。Sb2Te3是理论预言的一种三维拓扑绝缘体,但Sb2Te3薄膜生长及其研究的报道并不多。我们利用分子束外延技术在石墨烯衬底上制备出了高质量的Sb2Te3薄膜,发...
- 蒋烨平王以林陈牧李志宋灿立王立莉何珂陈曦马旭村薛其坤
- 关键词：拓扑绝缘体色散关系
- 文献传递
