韩素立
- 作品数：7 被引量：20H指数：4
- 供职机构：青岛理工大学机械工程学院更多>>
- 发文基金：国家自然科学基金山东省优秀中青年科学家科研奖励基金吉林省科技发展计划基金更多>>
- 相关领域：机械工程电子电信航空宇航科学技术更多>>
- 微通道板增益对光子计数探测器成像性能影响被引量：1
- 2014年
- 微通道板作为二维位置灵敏阳极光子计数探测器中的电子倍增器件,其增益特性直接影响探测器的成像性能。搭建了系统测试平台,测量了微通道板的增益随电压变化曲线,并获得了3块微通道板叠加后的脉冲高度分布曲线。根据测试结果以及脉冲高度分布曲线的能量分辨率与探测器增益的均匀性之间的物理关系,选择合适电压值和增益对探测器的性能进行优化,探测器分辨率由3.56lp/mm提高到4.49lp/mm,获得了清晰图像,为探测器的研制提供了技术支持。
- 韩素立尼启良张宏吉何玲平陈波
- 关键词：微通道板增益
- 基于荧光漂白成像的润滑油膜剪切流速测量被引量：6
- 2017年
- 沿润滑油膜厚度方向的剪切流速分布是影响机械部件润滑性能的重要因素.为此,搭建了基于荧光漂白成像的微间隙油膜剪切流速分布测量平台.通过对漂白区域形状演化过程进行图像分析,获得了微米量级间隙中的PB450和PAO6润滑油膜的剪切速度分布.结果表明:在设定测试条件下,厚度为8.5μm的PB450油膜沿膜厚方向的剪切流速近似为典型的线性分布,而相同厚度下的PAO6油膜流速分布表现为非线性塞流,界面附近油膜黏度较中层显著下降.研究还发现,同一滑动速度下,PAO6剪切流速偏离线性分布的程度随膜厚的降低而增加.经过比对分析,试验结果与流体动压润滑条件下的相关数据吻合.
- 韩素立郭峰邵晶李超
- 关键词：润滑油膜成像系统
- 球面微通道板在极紫外波段的量子探测效率被引量：5
- 2011年
- 由于球面微通道板(MCP)的量子探测效率与极紫外(EUV)相机的灵敏度有关,本文研究了球面MCP量子探测效率的特点和测量方法。根据微通道板在EUV波段光电子产额的理论模型,计算了球面MCP在该波段下随不同入射角变化的电子产额。使用激光等离子体光源测量球面MCP在EUV波段的量子探测效率,搭建了球面MCP在该波段的量子探测效率的测量装置,测量了球面MCP在不同位置的量子探测效率随波长和入射角的变化曲线。实验结果表明,入射角为15°时的量子探测效率约为入射角为0°时的5倍。
- 尼启良韩素立陈斌王海峰
- 基于FRAP的微间隙润滑油膜流速测量方法被引量：5
- 2017年
- 薄油膜润滑广泛存在于各类精密机械与微机电系统中。微纳米间隙内的润滑油流动是影响薄膜润滑承载力的重要因素,但目前薄润滑油膜的流速测量仍然缺少有效手段。本文基于荧光漂白恢复显微技术和漂白区域形状演化过程的成像分析,建立了油膜流速测量系统,可以对微米间隙润滑油膜的速度分布进行原位测量。利用建立的系统获得了厚度为8μm时聚丁烯PB450润滑油膜的库埃特流速分布。重建的荧光漂白强度分布曲线和实验测量结果的皮尔森相关系数大于0.95,且流速分布符合已有润滑理论,证明了测量结果的可靠性。
- 韩素立李超郭峰邵晶
- 关键词：润滑油膜流速
- 单色光干涉面接触润滑膜厚在线测量被引量：1
- 2017年
- 提出了滑块-玻璃盘形成的面接触润滑油膜厚度光干涉在线测量方法。以单色激光为光源,根据油膜厚度变化引起平行干涉条纹平移的物理特征,基于光流和动态时间规整技术构造复合算法,测量干涉图像相邻帧空间域上一维光强曲线的位移,从而得到相邻帧之间的油膜厚度差。从零速度开始记录每一帧干涉图像对应的膜厚变化,实时计算出当前帧对应的膜厚,实现了膜厚的在线测量。当前算法的测量结果与离线膜厚测量结果进行了对比,验证了该系统的测量准确性。进行了阶跃载荷、匀加速及匀减速工况下的膜厚测量,揭示了膜厚变化规律。
- 白清华郭峰韩素立黄柏林
- 关键词：光干涉油膜厚度面接触
- 流体动压条件下润滑油膜黏度的测量方法
- 2018年
- 流体动压润滑理论表明,流体动压润滑油膜的厚度对润滑油的黏度有很强的依赖关系。通过实验室自主开发的面接触润滑油膜测量仪(FST II)实测了润滑油黏度与流体动压润滑油膜厚度的对应关系,对于某一固定的速度和载荷获得了润滑油黏度和油膜厚度的关系式。利用这一关系式,可以获得未知的润滑油黏度。同时,还研究了载荷和速度对润滑油黏度和油膜厚度之间的函数关系。结果表明,动压条件下,膜厚值与黏度值在双对数坐标系下存在线性关系,计算所得黏度值与标定黏度值误差小于5%,从而证明了本文利用面接触试验台通过测量膜厚获取润滑油黏度这一方法具有可行性与有效性。
- 王茜韩素立郭峰
- 关键词：流体动压润滑面接触膜厚黏度
- 光子计数探测器感应位敏阳极的电子云扩散被引量：5
- 2014年
- 针对基于感应位敏阳极的光子计数成像探测器中非晶态Ge(α-Ge)膜的方块电阻对探测器成像性能的影响,研究了方块电阻的选配范围和方法。由于方块电阻的大小会影响Ge膜上的电子云的扩散特性从而影响探测器的计数率和分辨率,故本文根据菲克(Fick)扩散定律分析了吸收边界条件下非晶态薄膜上电子云的扩散特性。确定了电子云扩散时间与Ge膜方块电阻之间的数学关系,推导获得了探测器高质量成像时非晶态Ge膜方块电阻的阻值为30～2 700MΩ/□。采用具有不同方块电阻的感应位敏阳极进行了实际成像实验,结果表明:当Ge膜方块电阻在上述范围时,光子计数探测器在计数率为53kc/s时分辨率可以达到0.5mm。实验结果证明了推导得出的方块电阻选配范围的正确性。
- 韩素立陈波尼启良张宏吉
