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左宁

作品数:8 被引量:5H指数:2
供职机构:中国电子科技集团公司第四十五研究所更多>>
相关领域:电子电信自动化与计算机技术更多>>

文献类型

  • 8篇中文期刊文章

领域

  • 6篇电子电信
  • 2篇自动化与计算...

主题

  • 1篇电感
  • 1篇电机
  • 1篇电机控制
  • 1篇电机控制器
  • 1篇多芯片
  • 1篇信号
  • 1篇形变
  • 1篇杂散电感
  • 1篇在片测试
  • 1篇直线度
  • 1篇上位机
  • 1篇射频
  • 1篇射频器件
  • 1篇矢量
  • 1篇矢量网络分析...
  • 1篇通讯协议
  • 1篇图像
  • 1篇图像对准
  • 1篇偏距
  • 1篇平行度

机构

  • 8篇中国电子科技...

作者

  • 8篇左宁
  • 2篇高慧莹
  • 1篇刘洋
  • 1篇胡晓霞
  • 1篇艾博

传媒

  • 7篇电子工业专用...
  • 1篇电子工艺技术

年份

  • 2篇2024
  • 2篇2023
  • 1篇2022
  • 1篇2021
  • 1篇2018
  • 1篇2017
8 条 记 录,以下是 1-8
排序方式:
基于Modbus通讯协议的PLC运动控制研究
2024年
在基于Modbus通讯协议的PLC运动控制系统中,PLC作为主站,通过Modbus协议与从站设备(如变频器、电机控制器等)进行通讯。探讨了如何在上位机工控软件中通过Modbus通讯协议与PLC运动控制器及PLC输入输出模块进行数据交换以及逻辑程控。
左宁胡奇威袁丽娟
关键词:MODBUS通讯协议电机控制器
提高多芯片拼接线性度的新方法
2021年
为实现多芯片集成高精度拼接,对芯片拼接线性度进行了深入研究,提出了一种保证高精度芯片集成拼接方法。通过CCD图像匹配、识别定位每个芯片的实际位置坐标,根据已经拼接完成的芯片位置坐标拟合,进行芯片逐步预定位,及时纠偏,拼接完成后进行每一行芯片的直线度和行与行之间平行度的检测,介绍了芯片集成拼接工艺流程和拼接方法,并对检测算法进行了仿真分析,实例验证,证明该拼接方法的可行性。
高慧莹左宁艾博
关键词:直线度平行度
自动检测设备高温下测试坐标修正方法
2024年
硅晶圆半导体芯片在进行晶圆级电性能测量时,往往需要模拟芯片实际工作时的工作环境,如温度、湿度、气压。在自动探针台上进行高温环境模拟测试时,由于高温会导致测针、晶圆片和承片卡盘产生一定程度的形变,从而使得芯片上测试Pad位置坐标发生偏移,这种情况下,测试系统需要对形变后的测试点坐标进行修正。提出了一种基于机器视觉自动图形识别的在线修正测试点坐标偏移方法,用以解决自动探针台在高温环境下进行电性能测试时的测试坐标修正难题。
左宁袁丽娟胡奇威霍鑫
关键词:高温形变
修正飞针测试系统测试点坐标的解决方法被引量:2
2017年
飞针测试系统是用来测量混合电路板、LTCC基板、PCB板的各网络间开路、短路、绝缘以及电容的专业电子芯片检测设备。针对飞针测试系统中测试坐标点的修正提出了一种解决方法,不仅能准确得出对待测基片的平移偏距,也能够通过算法计算出待测基片的旋转角度,综合考虑平移和旋转这两点的因素最终确定待测点的实际位置坐标。
左宁高慧莹
微波信号测试过程中的误差校准分析
2022年
介绍了S曲线参数测试的原理、误差产生的原因以及开路-短路-负载-直通(OSLT)在片误差消除的方法,通过正向误差模型和反向误差模型,找出相应的12项误差因子,得出S曲线校正模型,提高了测试的准确性。
刘洋左宁
关键词:S曲线
矢量网络分析仪校准与程控研究
2023年
射频集成电路晶圆级S参数测试是射频器件制作过程中重要的工艺环节,该测试技术依赖微波探针测试系统,微波探针测试系统由矢量网络分析仪、探针、精密运动工作台、承片卡盘、机器视觉系统、测试电缆等组成。其中矢量网络分析仪是探针测试系统的测量工具,其测量精度和程控效率直接决定了该系统在片测量的准确度和工作效率。对矢量网络分析仪的工作原理、S参数物理意义、校准工艺、测量工艺做了详细地介绍,并给出了矢量网络分析仪上位机程控方法。
包敖日格乐左宁胡奇威张光宇张铎
关键词:矢量网络分析仪S参数
自动检测系统中图像对准方法研究被引量:2
2018年
自动检测系统需要在没有人工干预的情况下完成待测基片扫正以及自动找到首测点进行起测的功能,若图像对准系统不能稳定工作,设备的整体运行效率就很受影响。通过对自动检测系统图像对准方式的研究,提出了用几何匹配的方法来代替之前的灰度匹配,并且改进了扫正和寻找首测点的方法,提高了整机系统的稳定性和运行效率。
左宁胡晓霞
关键词:自动检测系统图像对准
测试回路杂散电感消除技术研究被引量:1
2023年
由于测试回路中的杂散电感会在被测器件开通和关断的过程中感应出较高的电压尖峰,增大了被测器件的电压应力,严重影响被测器件相关参数的测试精度,甚至导致被测器件损坏。对高压探针测试系统测试回路中产生杂散电感的原理进行研究,通过仿真分析和优化设计,提出了一种在测试回路中采用叠层母排结构以降低杂散电感的解决办法。
袁丽娟荆茂盛胡奇威左宁王洪洲
关键词:杂散电感
共1页<1>
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