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查钢强

作品数:89 被引量:85H指数:4
供职机构:西北工业大学更多>>
发文基金:国家自然科学基金国家重点基础研究发展计划教育部“新世纪优秀人才支持计划”更多>>
相关领域:电子电信理学核科学技术一般工业技术更多>>

文献类型

  • 45篇期刊文章
  • 28篇专利
  • 12篇会议论文
  • 2篇学位论文
  • 2篇科技成果

领域

  • 31篇电子电信
  • 16篇理学
  • 9篇核科学技术
  • 7篇一般工业技术
  • 3篇自动化与计算...
  • 2篇金属学及工艺
  • 1篇天文地球
  • 1篇化学工程
  • 1篇机械工程

主题

  • 28篇CDZNTE
  • 18篇晶体
  • 17篇半导体
  • 8篇探测器
  • 8篇CDZNTE...
  • 8篇CZT
  • 7篇电极
  • 7篇碲锌镉
  • 6篇碲化物
  • 6篇半导体探测器
  • 5篇射线
  • 5篇TE
  • 5篇X射线
  • 5篇X射线探测
  • 5篇AU
  • 4篇钝化
  • 4篇退火
  • 4篇光电
  • 3篇单晶
  • 3篇导体

机构

  • 89篇西北工业大学
  • 5篇陕西迪泰克新...
  • 2篇上海交通大学
  • 2篇中国科学技术...
  • 1篇北京航空航天...
  • 1篇西安工程大学
  • 1篇中国科学院
  • 1篇空军工程大学
  • 1篇西安石油大学
  • 1篇中核(北京)...

作者

  • 89篇查钢强
  • 62篇介万奇
  • 43篇王涛
  • 27篇徐亚东
  • 13篇傅莉
  • 10篇何亦辉
  • 8篇曹昆
  • 6篇刘长友
  • 6篇曾冬梅
  • 5篇杨帆
  • 5篇郭榕榕
  • 5篇李强
  • 4篇谷智
  • 4篇周岩
  • 4篇李阳
  • 4篇白旭旭
  • 4篇孙晓燕
  • 4篇席守智
  • 3篇周伯儒
  • 3篇高俊宁

传媒

  • 15篇功能材料
  • 13篇人工晶体学报
  • 3篇光电子.激光
  • 2篇Journa...
  • 1篇红外与激光工...
  • 1篇稀有金属材料...
  • 1篇物理
  • 1篇热加工工艺
  • 1篇材料导报
  • 1篇原子能科学技...
  • 1篇材料工程
  • 1篇中国有色金属...
  • 1篇机械科学与技...
  • 1篇功能材料与器...
  • 1篇中国有色金属...
  • 1篇中国科学:技...
  • 1篇第十六届全国...
  • 1篇2014中国...
  • 1篇第十六届全国...

年份

  • 2篇2024
  • 3篇2023
  • 1篇2022
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  • 1篇2017
  • 3篇2016
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  • 9篇2014
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  • 11篇2012
  • 10篇2011
  • 6篇2010
  • 3篇2009
  • 2篇2008
  • 6篇2007
  • 5篇2006
  • 1篇2005
89 条 记 录,以下是 1-10
排序方式:
新型CZT半导体X射线探测器研制与应用展望
CdZnTe(CZT)半导体是一种性能优异的室温X射线和γ射线探测材料,在环境监测、医学诊断、工业无损检测、安全检查、空间科学等众多领域有广泛的应用前景.本文简要介绍了CZT探测器的基本工作原理和性能评价指标,阐述了CZ...
查钢强
近空间升华法制备CdZnTe外延厚膜及其性能研究
2014年
采用近空间升华法在GaAs(100)衬底上外延生长CdZnTe单晶厚膜,用化学腐蚀的方法去除掉GaAs(100)衬底后,对CdZnTe外延膜上、下表面的形貌、成分、结构以及电学性能进行了表征分析。SEM和EDS的结果表明,CdZnTe外延膜表面平滑致密且膜中成分分布较均匀;红外透过成像分析的结果表明,CdZnTe厚膜中无明显的Te夹杂相;X射线摇摆曲线、PL谱的结果表明,随着薄膜厚度的增加,CdZnTe外延膜中的晶体缺陷减少,应变弛豫,结晶质量提高,通过增加膜厚可以获得高质量的CdZnTe外延膜;电学测试表明,CZT外延膜的电阻率在1010Ω·cm数量级,且具有较好的光电响应特性,可用于高能射线探测。
蔺云介万奇查钢强张昊周岩汤三奇李嘉伟
关键词:PL谱应变弛豫
CdZnTe薄膜的CdCl_2退火及性能表征
2012年
采用近空间升华法制备了CdZnTe薄膜,并对其进行CdCl2退火,采用扫描电镜(SEM)、能谱仪(EDS)、X射线衍射仪(XRD)、紫外光谱仪、I-V测试仪等研究了退火对薄膜表面形貌、成分、结构以及光电性能的影响。结果表明,经过CdCl2退火后薄膜的晶粒尺寸明显增大,晶粒分布更加均匀;XRD分析结果显示,退火后薄膜的最强峰(111)峰的半峰宽变窄,薄膜沿(111)方向的择优取向明显增强;退火后薄膜的光学透过率降低,截止边红移,光学禁带宽度减小;薄膜的电阻率在退火后下降了两个数量级。
仝俊利介万奇高俊宁查钢强
关键词:CDZNTE
检测碲化物半导体晶体中富Te相的装置及方法
本发明公开了一种检测碲化物半导体晶体中富Te相的装置及方法,用于解决现有检测半导体晶体中富Te相的装置很难获得尺寸较大的视场,以及不能实现对晶体厚度方向的分层域聚焦成像的技术问题。技术方案是通过改变变焦镜筒的放大倍数实现...
介万奇徐亚东王涛查钢强何亦辉郭榕榕
文献传递
Au/p-CZT晶体的光致发光以及电学性能研究被引量:1
2006年
对比了CZT晶片经腐蚀与钝化表面处理的PL谱,结果表明NH4F/H2O2作为CZT晶体表面钝化剂,钝化后CZT晶体表面陷阱态密度减小到最低程度,同时减小了与Cd空位复合有关的深能级杂质浓度。用Agilent 4339B高阻仪进行CZT晶片I-V特性测试以及Agilent 4294A高精度阻抗分析仪进行CZT晶片的C-V特性测试,结果表明钝化均能不同程度提高Au/p-CZT接触的势垒高度,减小了漏电流。主要原因是在CZT表面钝化生成的TeO2氧化层增加接触势垒高度,并减小了电荷因隧道效应而穿过氧化层的几率。
李强介万奇傅莉汪晓芹查钢强曾冬梅杨戈
关键词:PL谱I-V特性C-V特性
CdZnTe晶体的加工与表面质量控制
CdZnTe/(CZT/)晶体材料由于其优异的光电性能,得到了人们的广泛注意。它不仅是生长红外探测器材料HgCdTe最理想的外延衬底,而且还被广泛用于制备高性能x射线或γ射线探测器、光电调制器、太阳能电池和激光窗口等。 ...
查钢强
文献传递
CdZnTe单晶的机械抛光及其表面损伤层的测定被引量:11
2006年
研究了CdZnTe单晶片的机械抛光工艺。采用SiO2和MgO进行分步机械抛光后的晶片光亮平整,在光学显微镜下观察没有划伤,采用New View5000TM测得抛光后晶片的表面粗糙度Ra为8.752nm。采用X射线摇摆曲线的半峰宽表征了表面损伤程度。通过分析不同时间腐蚀后晶片的质量和半峰宽值,计算出机械抛光产生的表面损伤层厚度约为26.7μm。
查钢强介万奇李强刘永勤
关键词:CDZNTE机械抛光
CdZnTe单晶表面原子结构
2008年
半导体表面是一个特殊区域,其表面原子结构与体态有很大区别,而且他们对材料的整体性能又起着十分重要的影响。本文通过真空Ar+离子刻蚀并原位退火的办法,获得理想清洁的CdZnTe单晶表面,采用低能电子衍射(LEED)观察了(110)、(111)A面和(111)B面的表面原子结构。发现(110)面为稳定面没有发生重构,而在(111)A面上发现了由空位形成的(31/2×31/2)R30o重构,在(111)B面上发现了由Te顶戴原子形成的(2×2)重构。
张育潜查钢强傅莉介万奇
高能射线探测器用碲锌镉晶体材料及制备技术
介万奇王涛查钢强徐亚东李国强李宇杰
X射线和伽马射线探器是核科学技术、公共安全监测、核医学成像、工业无损检测、空间天文观测等领域的核心器件。当前基于射线探测器的仪器设备逾百种,每年有数百亿美元的市场。在经历了第一代气体探测器、第二代闪烁体探测器的发展之后,...
关键词:
室温核辐射探测器用碲锌镉晶体生长研究进展被引量:7
2020年
碲锌镉(CdZnTe,CZT)晶体被认为是目前最有前途的室温半导体探测器材料之一,基于该晶体的探测器件具有能量分辨率高、体积小、便携等优点。而大面积CZT像素探测器的快速发展以及对高能、大剂量X射线探测的需求,对CZT材料的质量和尺寸提出了更高的要求。本文从CZT晶体的基本物性参数入手,探讨了大尺寸CZT晶体生长的影响因素,对两种主要的CZT生长方法——布里奇曼法和移动加热器法的研究进展进行了综述。
杨帆王涛周伯儒席守智查钢强介万奇
关键词:碲锌镉晶体布里奇曼法移动加热器法
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