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下颌神经管在下颌磨牙区CBCT横截面的可见性分析被引量：2: 2016年; 目的：分析下颌神经管在下颌磨牙区锥体束CT（CBCT）横截面中的可见性，并分析其可见性在年龄、性别及左右侧方面是否有显著性差异。方法按纳入标准收集临床拍摄的110例患者的CBCT影像资料，由三名口腔医生对双侧下颌第一磨牙及第二磨牙区域的CBCT横截面进行评阅。横截面中下颌神经管的可见性分为容易辨认、大致可辨和无法辨认三个等级，结果进行统计学分析。结果下颌第一磨牙及第二磨牙区域CBCT横截面中下颌神经管容易辨认、大致可辨和无法辨认的总体比率分别为48.41%、33.87%、17.73%；不同磨牙位置组及不同性别组之间下颌神经管可见性差异无统计学意义（P〉0.05）；20~30岁年龄组不同部位下颌神经管可见性差异有统计学意义（P〈0.05）。结论大部分患者牙种植术前可通过CBCT横截面辨认其下颌神经管的位置，为治疗提供重要参考，但仍有部分患者无法通过CBCT横截面明确其下颌神经管的位置，临床需仔细分析。年龄和左右侧可能是影响下颌神经管可见性的因素。; 陈闰香蒋娟雯潘志文; 关键词：下颌神经管锥体束CT 可见性

上颌磨牙根颊侧植入微种植体用于全牙列远移的CBCT骨量分析被引量：4: 2012年; 目的:分析上颌磨牙根颊侧植入微种植体用于全牙列远移的可行性。方法:按纳入标准选取88例初诊患者的锥体束CT(CBCT)影像资料,根据上颌第二磨牙颊根数目分为双颊根组和单颊根组。测量上颌第一磨牙和上颌第二磨牙根颊侧的实际骨厚度及在相应部位与上颌牙合平面成70°角植入微种植体所需骨厚度,比较这2组数据得出研究对象中可按该方法植入微种植体的百分比。测量各植入部位前方沿弓形方向的根间距,分析磨牙的可远移量。结果:在上颌磨牙各根颊侧均有一定比例患者可植入微种植体,最高可植入百分比在双颊根组位于上颌第二磨牙近中颊根颊侧6mm高度,为85.70%;在单颊根组位于上颌第二磨牙根颊侧6 mm高度,为91.38%。上颌磨牙近中颊根前方根间距较大,远中颊根前方根间距较小。结论:上颌磨牙各根颊侧均有部分患者可植入微种植体,最佳部位位于上颌第二磨牙近中颊根或单根颊侧,但亦非绝对安全。上颌磨牙根颊侧植入微种植体用于全牙列远移方法的应用需要个体分析。; 陈闰香林新平; 关键词：微种植体支抗

颧牙槽嵴区域骨质厚度的CBCT研究: 目的通过锥体束CT (CBCT)测量颧牙槽嵴区域骨表面至上颌窦底的骨质厚度,为支抗钉在颧牙槽嵴区域植入的临床应用提供参考.方法采集42例成人患者的CBCT影像资料,分别测量颧牙槽嵴区域不同矢状平面上距上颌第一磨牙近中...; 陈闰香

恒牙邻面去釉之牙釉质厚度的CBCT研究被引量：3: 2016年; 目的通过锥体束CT(CBCT)测量恒牙近、远中邻接区牙釉质厚度,为口腔临床进行邻面去釉提供参考。方法从临床拍摄的CBCT影像资料中筛选出55例30岁以下患者的144颗牙齿,运用三维测量软件In Vivo Dental分别测量恒牙近、远中邻接区的牙釉质厚度,进行统计学分析。结果恒牙近、远中邻接区牙釉质厚度无统计学差异(P>0.05);上(下)颌侧切牙与中切牙邻接区牙釉质厚度无统计学差异(P>0.05),上(下)颌尖牙、前磨牙及第一磨牙牙釉质厚度均大于中切牙牙釉质厚度(P<0.05);上颌切牙近、远中邻接区牙釉质厚度大于下颌切牙(P<0.05),其余牙位恒牙近、远中邻接区牙釉质厚度在上、下颌同名牙之间差异无统计学意义(P>0.05)。结论不同恒牙近、远中邻接区牙釉质厚度并非均匀一致,切牙区最小,每邻接区两牙邻面去釉量最多0.5 mm的指导原则更适用于切牙区,后牙区或可适当增大。; 陈闰香陈小燕丁王辉蒋娟雯; 关键词：恒牙牙釉质牙列拥挤邻面去釉锥体束CT

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陈闰香