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张燕峰

作品数：4 被引量：1H指数：1
供职机构：山东大学更多>>
相关领域：电子电信理学更多>>

合作作者

文献类型

  • 4篇中文期刊文章

领域

  • 3篇电子电信
  • 1篇理学

主题

  • 3篇圆偏振
  • 3篇圆偏振光
  • 3篇偏振
  • 3篇偏振光
  • 3篇偏振光谱
  • 3篇椭圆偏振
  • 3篇椭圆偏振光
  • 3篇椭圆偏振光谱
  • 3篇光谱
  • 3篇半导体
  • 2篇介电函数
  • 2篇半导体材料
  • 1篇微商
  • 1篇反射谱
  • 1篇GA
  • 1篇波长
  • 1篇波长调制
  • 1篇P
  • 1篇X

机构

  • 4篇山东大学

作者

  • 4篇张淑芝
  • 4篇张燕峰
  • 3篇连洁

传媒

  • 1篇光电子．激光
  • 1篇物理
  • 1篇半导体杂志
  • 1篇半导体光电

年份

  • 1篇1999
  • 3篇1998
共 4 条 记 录，以下是 1-4
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排序方式：
精确确定半导体材料临界点的能量值
1999年
分析表明波长调制反射谱的实质，是介电函数对能量的一级微商。导出了弱电场调制反射谱与介电函数对能量的三级微商成正比，将ＭＯＣＶＤ方法生长的ＧａＩｎＰ以及掺Ｓｉ和掺Ｚｎ三个样品，用椭偏光谱法测量得到可见光区的介电函数谱，并求其一级和三级微商谱。将用于分析电反射谱的三点法推广用于分析介电函数的一级和三级微商谱，得到波长调制和弱电场调制反射谱的实验结果，并与介电函数谱的结果加以比较。
张淑芝张燕峰连洁
关键词：半导体材料椭圆偏振光谱
用椭圆偏振光谱精确确定半导体材料临界点的位置
1998年
分析了波长调制反射谱，实际是介电函数对能量的一级微商。导出了弱电场调制反射谱与介电函数对能量的三级微商成正比，将ＭＯＣＶＤ方法生长的ＧａＩｎＰ以及掺Ｓｉ和掺Ｚｎ三个样品，用椭偏光谱法测量得到可见光区的介电函数谱，并求其一级和三级微商谱。将用于分析电反射谱的三点法推广用于分析介电函数的一级和三级微商谱，得到波长调制和弱电场调制反射谱的实验结果，并与介电函数谱的结果加以比较，使灵敏度和分辨率有很大提高。
张淑芝张燕峰
关键词：椭圆偏振光谱半导体材料
用介电函数的三级微商谱精确确定Ga_xIn_(1-x)P临界点的能量值被引量：1
1998年
本文导出了弱电场调制反射谱与介电函数对能量的三级微商成正比。将ＭＯＣＶＤ方法生长的ＧａＩｎＰ以及掺Ｓｉ和掺Ｚｎ３个样品，用椭圆偏振光谱法测量得到可见光区的介电函数谱，并求其三级微商谱。把用来分析电反射谱的三点法推广到分析介电函数的三级微商谱，得到弱电场调制反射谱的实验结果，并与介电函数谱的结果加以比较。
张淑芝张燕峰连洁
关键词：介电函数
用反射椭圆偏振光谱获得波长调制反射谱
1998年
文章分析了波长调制反射谱的实质是静态介电函数对能量的一级微商谱．将ＭＯＣＶＤ方法生长的ＧａＩｎＰ以及掺Ｓｉ两个样品，用椭偏光谱法测量得到可见光区的介电函数谱，并求其一级微商谱．将用于分析电反射谱的三点法推广用来分析介电函数的一级微商谱，得到波长调制反射谱的实验结果，并与介电函数谱的结果加以比较，使灵敏度和分辨率有很大提高．
张淑芝连洁张燕峰
关键词：椭圆偏振光谱介电函数半导体
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