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曾燕华

作品数:31 被引量:23H指数:3
供职机构:上海市计量测试技术研究院更多>>
发文基金:国家质检总局科技计划项目上海市质量技术监督局科技项目更多>>
相关领域:机械工程金属学及工艺电子电信一般工业技术更多>>

文献类型

  • 11篇期刊文章
  • 10篇专利
  • 8篇科技成果
  • 1篇会议论文
  • 1篇标准

领域

  • 11篇机械工程
  • 5篇金属学及工艺
  • 4篇电子电信
  • 3篇自动化与计算...
  • 3篇一般工业技术
  • 1篇交通运输工程
  • 1篇文化科学
  • 1篇理学

主题

  • 6篇非接触
  • 5篇不确定度
  • 5篇测头
  • 4篇伤痕
  • 4篇校准
  • 3篇电感测微仪
  • 3篇心轴
  • 3篇偏心
  • 3篇偏心距
  • 3篇偏心轴
  • 3篇涡轮
  • 3篇涡轮部件
  • 3篇校准方法
  • 3篇螺柱
  • 3篇跨棒距
  • 3篇花键
  • 3篇环规
  • 3篇非接触式
  • 3篇标准件
  • 3篇测长

机构

  • 31篇上海市计量测...
  • 1篇郑州大学
  • 1篇中机生产力促...
  • 1篇中国计量大学
  • 1篇中机科(北京...
  • 1篇江苏锐精光电...
  • 1篇陕西威尔机电...

作者

  • 31篇曾燕华
  • 24篇傅云霞
  • 16篇张波
  • 13篇唐冬梅
  • 12篇刘芳芳
  • 12篇祝逸庆
  • 7篇姜志华
  • 6篇雷李华
  • 5篇石红
  • 5篇张丰
  • 4篇杨晓栋
  • 3篇邵力
  • 2篇刘一
  • 2篇张文建
  • 1篇张云
  • 1篇沈祖善
  • 1篇潘良明
  • 1篇刘立群
  • 1篇孔明
  • 1篇李源

传媒

  • 6篇上海计量测试
  • 1篇科技通报
  • 1篇计量技术
  • 1篇中国计量
  • 1篇光学仪器
  • 1篇计测技术
  • 1篇2009年全...

年份

  • 1篇2022
  • 1篇2019
  • 1篇2018
  • 2篇2017
  • 4篇2016
  • 6篇2015
  • 2篇2014
  • 8篇2013
  • 3篇2012
  • 1篇2011
  • 1篇2009
  • 1篇2008
31 条 记 录,以下是 1-10
排序方式:
一种基于刀口测头的内尺寸测量方法研究被引量:4
2013年
随着精密机械加工复杂化程度的提高,传统量块组合填塞法或影像法测量各种柱面内尺寸已不能满足精密测量技术发展的需要,它们或对人员素质要求较高,或只能反映局部特征。本文介绍了一种基于刀口(楔形)测头的内尺寸测量方法,通过改进万能测长仪的内测钩,设计专用刀口平面组合测头,利用内外测头结合标定的方法,采用量块比较测量法实现了对柱面内尺寸的测量。并以花键环规为例,分析了测量结果的测量不确定度,通过En值的计算,证明了该方法的有效性和可靠性。
曾燕华傅云霞张波唐冬梅
关键词:计量学万能测长仪
一种圆柱直齿渐开线花键环规跨棒距的测量方法及测量装置
本发明涉及一种圆柱直齿渐开线花键环规跨棒距的测量方法及测量装置,测量方法包括如下步骤:(1)在卧式测长仪的测量座和尾座上相向安装两对称的测钩,在测钩的钩尖端上安装测量测头,所述测量测头包括刀口测头和平面测头,所述刀口测头...
曾燕华傅云霞张波刘芳芳祝逸庆
文献传递
大尺寸圆锥螺纹量规基面中径测量方法被引量:3
2017年
根据大尺寸圆锥螺纹量规的测量需求,研制了一套基于三坐标测量机和激光干涉仪的大尺寸圆锥螺纹量规基面中径测量系统。对圆锥螺纹量规的基面中径进行了实际测量,并进行了测量不确定度评定。重复性测量和比对实验的结果表明,基面中径的测量结果达到预定的技术要求,所研制的测量系统适用于大尺寸圆锥螺纹量规的基面中径测量。
张波曾燕华张文建唐冬梅
关键词:基面中径激光干涉仪不确定度
一种无损检测标准伤痕试样的校准方法被引量:2
2012年
本文提出一种基于光切原理的新测量方法,可高精度地测量深窄槽型的表面伤痕的深度。该方法将光切图像用于瞄准,并用三坐标测量机作为测量的标准器,通过两次调焦瞄准的方法测量深度尺寸,可将深度测量范围提高至10mm,测量不确定度在10μm以内,有效地解决了高精度标准表面伤痕试块的校准问题。
刘芳芳傅云霞曾燕华祝逸庆
关键词:光切法非接触测量
一种涡轮部件及螺柱标准件同轴度的测量装置和方法
本发明公开了一种涡轮部件及螺柱标准件同轴度的测量装置和方法,所述表座固定在底座上,电感测微仪设置于表座上,弹性体的一端固定在底座上,另一端和连接座的底部相连,连接座的首端和电感测微仪相连,末端和滑轨垂直相连,测头夹具套设...
张波唐冬梅曾燕华傅云霞姜志华杨晓栋
纳米计量与科技发展被引量:1
2015年
一、引言 纳米科技是在(0.1-100)nm范围内,研究电子、原子和分子内的运动规律、特性和应用的一门科学技术。当粒子尺寸减小到纳米尺度,到某个临界值时,将会出现量子尺寸效应,导致纳米微粒的光、电、磁、热、声及超导电性与宏观特性显著不同,呈现出新的小尺寸效应,纳米技术即是利用这些特性制造出具有特定功能的物质或设备。纳米技术是一门交叉性很强的综合学科,研究内容涉及现代科技的广阔领域。
傅云霞雷李华曾燕华
关键词:量子尺寸效应小尺寸效应
产品几何技术规范(GPS) 几何精度的检测与验证 第5部分:几何特征检测与验证中测量不确定度的评估
本文件规定了测量结果的不确定度评估的操作。提供了针对产品尺寸和几何公差检测与验证过程中不确定度的评估方法,给出了根据不确定度管理程序(PUMA)对检验验证过程优化的应用规范。本文件适用于几何产品的尺寸、形状、方向、位置等...
曾燕华孔明陈刚朱悦明重年张文建范厚杰方东阳
一种用于三维非接触测量系统校准的标准装置
本发明专利涉及计量测试量值传递技术领域,尤其是涉及一种用于三维非接触测量系统校准的标准装置。它的测量棒两端分别连接标准球。本发明由于采用上述技术方案,使得标准球与球支撑构成直线垂直于测量棒,在测量过程中标准球能被三维非接...
姜志华杨晓栋唐冬梅曾燕华张波
文献传递
基于光切原理的非接触式伤痕深度测量装置
本实用新型为一种基于光切原理的非接触式伤痕深度测量装置,其特征在于:所述的测量装置包括9J型光切显微镜光路壳体、长度计、光源及调节组件、CCD及调节组件、三维调节工作台、压板固定用T型导轨条、底座及显微镜导轨立柱;所述的...
刘芳芳傅云霞曾燕华张云祝逸庆
文献传递
标准硅片厚度测量装置
傅云霞曾燕华祝逸庆
标准硅片是每个硅片和集成电路生产厂商在硅片生产过程中用于控制硅片厚度的标准样品。在生产流水线中以标准硅片为基准,用比较测量的方法测量产品硅片的厚度。生产厂商的标准硅片是通过计量部门校准后投入使用。随着上海及周边地区的生产...
关键词:
关键词:硅片厚度
共4页<1234>
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