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石琼

作品数：3 被引量：10H指数：2
供职机构：中国科学院上海硅酸盐研究所更多>>
发文基金：国家自然科学基金更多>>
相关领域：机械工程理学更多>>

合作作者

文献类型

  • 3篇中文期刊文章

领域

  • 2篇机械工程
  • 1篇理学

主题

  • 3篇荧光
  • 3篇荧光光谱
  • 3篇光谱
  • 3篇光谱仪
  • 2篇荧光光谱仪
  • 1篇射线
  • 1篇射线荧光光谱...
  • 1篇化学态
  • 1篇计算机
  • 1篇分辨率
  • 1篇X-射线
  • 1篇X辐射
  • 1篇X射线

机构

  • 3篇中国科学院

作者

  • 3篇陶光仪
  • 3篇石琼
  • 3篇吉昂
  • 1篇吴梅梅
  • 1篇刘红超
  • 1篇范存昌

传媒

  • 2篇分析化学
  • 1篇分析测试仪器...

年份

  • 1篇1996
  • 1篇1994
  • 1篇1991
共 3 条 记 录，以下是 1-3
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排序方式：
普通X-射线荧光光谱仪分辨率的改善被引量：1
1994年
作者为改善普通X-射线荧光光谱仪的分辨率和谱线的低能拖尾现象,于PW 1404谱仪上加了可拆卸的限制垂直发散准直器(6.5×20×50mm,片间距0.65mm)。实验结果表明:加了限制垂直发散准直器后,谱仪相对分辨率提高10％,谱仪非对称因子由1.4～1.5改善为1.0～1.18。为普通X-射线谱仪用于化学态分析提供了更为有利的条件。
吉昂刘红超石琼陶光仪
关键词：X射线荧光光谱仪分辨率
普通 X-射线荧光光谱仪在化学态分析中的应用被引量：7
1991年
本文测定了PW1404 X-射线荧光光谱仪谱分辨率,比较了普通和高分辨率双晶X-射线荧光光谱仪测定某些典型试样中Si、Al和Cu的化学位移值,并用标准样品验证普通谱仪定量测定铝配位数丰度的精度和准确度,将普通谱仪测得的Si-O键键性与红外、拉曼光谱结果作了比较。在此基础上论述了普通谱仪在化学态分析中应占有一定的地位。
吉昂吴梅梅石琼陶光仪
关键词：X-射线荧光光谱光谱仪化学态
PW1410X射线荧光光谱仪的改造与应用被引量：2
1996年
对荷兰飞利浦公司生产的ＰＷ１４１０Ｘ射线荧光光谱仪进行了改造；研制了专用的定性、定量分析接口板，将它们与ＩＢＭＰＣ计算机相联；编制了通用的Ｘ射线荧光光谱定性和定量分析软件，使原先非自动化的仪器改造成可用ＩＢＭＰＣ机进行分析数据自动化处理的更新仪器。
石琼陶光仪吉昂范存昌李卫民
关键词：荧光光谱仪计算机X辐射
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共1页<1>
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