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赵桥桥

作品数:3 被引量:6H指数:1
供职机构:北京印刷学院更多>>
发文基金:北京市自然科学基金国家自然科学基金更多>>
相关领域:理学一般工业技术金属学及工艺更多>>

文献类型

  • 3篇中文期刊文章

领域

  • 2篇理学
  • 1篇金属学及工艺
  • 1篇一般工业技术

主题

  • 3篇原子层沉积
  • 2篇等离子体辅助
  • 2篇退火
  • 2篇面电阻
  • 2篇表面电阻
  • 1篇电子回旋共振
  • 1篇氧化铝薄膜
  • 1篇TMA
  • 1篇表面形貌
  • 1篇沉积速率

机构

  • 3篇北京印刷学院
  • 1篇国家知识产权...

作者

  • 3篇陈强
  • 3篇赵桥桥
  • 3篇桑利军
  • 2篇李兴存
  • 1篇胡朝丽
  • 1篇雷雯雯

传媒

  • 1篇高电压技术
  • 1篇北京印刷学院...
  • 1篇真空科学与技...

年份

  • 2篇2013
  • 1篇2012
3 条 记 录,以下是 1-3
排序方式:
原子层沉积铝薄膜的研究
2013年
为了对原子层沉积金属薄膜进行研究,以三甲基铝为前驱体、氢气为还原剂,在微波电子回旋共振等离子体辅助原子层沉积装置中进行了铝薄膜的沉积。通过实验确定了三甲基铝和和H2进行饱和反应的参数。采用X射线衍射仪、原子力显微镜及四探针电阻仪对薄膜的结构和性能进行了测试。结果表明:用等离子体辅助原子层沉积技术可以成功制备金属铝薄膜,沉积速率和表面形貌受基底温度的影响,薄膜在H2氛围下退火处理后晶体结构可以得到有效改善,铝薄膜的表面电阻也有明显降低。
赵桥桥桑利军陈强
关键词:原子层沉积退火表面电阻
等离子体辅助原子层沉积氧化铝薄膜的研究被引量:5
2012年
为在室温条件下进行氧化铝薄膜的原子层沉积,自行设计了一套微波回旋共振等离子体辅助原子层沉积装置,以三甲基铝作为铝源前躯体,氧气作为氧化剂,在室温下于氢氟酸溶液中处理过的单晶硅基片上进行了氧化铝薄膜的沉积。利用扫描电子显微镜、原子力显微镜、高分辨率透射电子显微镜、X-ray射线衍射、X-ray射线光电子能谱等分析手段测试了薄膜的表面形貌和成分,结果表明制备的氧化铝薄膜为非晶态结构,铝、氧元素含量配比接近2/3,同时薄膜表面非常光滑平整而且致密,表面粗糙度<0.4nm。通过高分辨率透射电子显微镜的截面图,可以估算出薄膜厚度约为80nm,界面非常清晰、平整,薄膜质量较高,沉积速率为0.27nm/周期,沉积速率较热沉积大大提高。
桑利军赵桥桥胡朝丽李兴存雷雯雯陈强
关键词:原子层沉积表面形貌沉积速率
电子回旋共振等离子体辅助原子层沉积金属铝薄膜的研究被引量:1
2013年
介绍了以三甲基铝为前驱体、氢气为还原剂,在微波电子回旋共振等离子体装置中进行了等离子体辅助原子层沉积金属铝薄膜的研究。确定了影响薄膜结构、表面形貌、和性能的因素。其中薄膜的晶体结构采用X射线衍射表征、原子力显微镜表征薄膜的表面形貌、傅里叶红外变换仪研究薄膜的成分组成,而薄膜性能表面电阻用四探针电阻仪进行测量。实验得到电子回旋共振等离子体可以有效辅助原子层沉积技术制备金属铝薄膜,微波功率对铝薄膜性能有一定的影响;薄膜的后退火处理对其性能影响较大,在氢气氛围中退火处理后铝薄膜的表面电阻有显著的降低,接近其体电阻值。
赵桥桥桑利军陈强李兴存
关键词:原子层沉积退火表面电阻
共1页<1>
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