陈泽民
- 作品数：37 被引量：136H指数：8
- 供职机构：清华大学理学院物理系更多>>
- 发文基金：国家自然科学基金教育部重点实验室开放基金教育部留学回国人员科研启动基金更多>>
- 相关领域：理学核科学技术文化科学电子电信更多>>
- 用双屏栅电离室测量快中子（n，α）反应的双微分截面被引量：10
- 1994年
- 用双屏栅电离室和多参数数据获取系统建立了一套测量（ｎ，ｐ）、（ｎ，α）快中子诱发带电粒子反应双微分截面的装置。在北京大学４．５ＭＶ静电加速器上测量了４ＭｅＶ和５ＭｅＶ中子的４０Ｃａ（ｎ，α）３７Ａｒ反应的能谱和角分布以及５ＭｅＶ中子的微分截面。实验结果表明整个系统工作正常．用于研究（ｎ，ｐ）、（ｎ，α）反应是合适的。
- 唐国有曲德成仲文光曹文田包尚联陈泽民陈迎棠齐卉荃
- 关键词：微分截面快中子
- 大体积BaF_2γ能谱仪被引量：4
- 1996年
- 为了配合研制“伴随粒子快中子飞行时间法检测爆炸物系统”，我们建造了一台大体积的ＢａＦ＿２γ谱仪。其能量分辨率为１２．６％（对６６１ｋｅＶ的γ射线），时间分辨率好于１ｎｓ。ＢａＦ＿２晶体直径为１００ｍｍ，长度在１００ｍｍ以上。
- 徐四大任绍霞齐卉荃张凤银陈泽民郑燕宁陈迎棠梁伟李明涛
- 关键词：Γ能谱仪
- 轻核(n,x)反应微分截面的实验测量被引量：1
- 2004年
- 对本课题组十几年来的(n,x)反应实验研究工作进行了评述.介绍了屏栅电离室的特点、构造与工作原理.用屏栅电离室在北京大学4.5MV静电加速器上测量了1—7MeV中子6Li(n,t)4He和10B(n,α)7Li反应的微分截面与截面,对实验结果进行了讨论.
- 张国辉陈金象唐国有施兆民陈泽民Yu.M.GledenovM.SedyshevaG.Khuukhenkhuu
- 关键词：微分截面轻核屏栅电离室中子静电加速器MV
- 快中子飞行时间法检测隐藏爆炸物系统
- 一、引言洛克比(Lockerbie)空难的惨痛教训促使各发达国家大力开展对策研究。此次空难使用了塑性炸药,塑性炸药不需要金属外壳,其密度与许多常见物品相近,又可以捏成任何形状,用 X 光检测不出来,又由于其挥发性极低,特...
- 齐卉荃徐四大陈泽民陈迎棠方雄
- 文献传递
- ^(40)Ca(n,α)^(37)Ar反应的测量
- 1999年
- 快中子核反应数据，不论对反应堆的设计，还是对核反应机制和核结构的研究及其理论的发展均有着重要的意义。由于屏栅电离室的诸多特点，被用于快中子核反应截面、能谱及双微分截面的测量。作为系统研究的一部分，文章利用屏栅电离室在北京大学４．５ＭＶ静电加速器上对薄Ｃａ靶的（ｎ，α）反应进行测量，得到５ＭｅＶ和６ＭｅＶ时的４０Ｃａ（ｎ，α０）３７Ａｒ、４０Ｃａ（ｎ，α１，２）３７Ａｒ的角分布和反应截面，同时给出总截面及微分能谱。实验结果表明４０Ｃａ（ｎ，α）３７Ａｒ的角分布大致关于９０°对称，说明在此能区，复合核反应机制起主要作用。
- 张雪梅陈泽民唐国有唐国有
- 关键词：反应截面角分布核反应快中子
- 美国大学的理工科教育改革被引量：7
- 2001年
- 陈泽民
- 关键词：理工科教育改革信息技术
- 碳/氧化能谱测井系统
- 本发明提供一种高准确度的碳/氧比(C/O)能谱测井系统，该系统是将氘氚反应快中子伴随α粒子飞行时间技术用于碳/氧比能谱测井，包括具有伴随α粒子探测系统的中子管，中子屏蔽体，γ射线探测器，快电子学定时部件以及数据获取、处理...
- 徐四大陈振朋曲贤才陈泽民田嘉禾齐卉荃陈迎堂王书坚张自竖
- 文献传递
- 一部立意新、有特色的教材——介绍《大学物理拓展与应用》被引量：1
- 2003年
- 由上海交大严燕来、叶庆好主编,高等教育出版社出版的教材<大学物理拓展与应用>在2003年初面世了.这套教材由上海交通大学牵头,同济大学、华东理工大学、中国科技大学、东南大学、浙江大学合作编写,是教育部"面向21世纪教学内容和课程体系改革计划"理工科项目的一项成果.
- 陈泽民
- 关键词：物理教材高等教育物理教学高校多媒体教学
- 用屏栅电离室测量^6Li（n,t）^4He反应微分截面被引量：4
- 2001年
- 用屏栅电离室对 3.6 7MeV与 4 .4 2MeV中子6Li(n ,t) 4He反应微分截面进行了测量。利用氘气体靶通过D(d ,n) 3 He反应产生中子 ,用BF3 和液闪探测器 (NE2 13)进行相对中子通量监测 ,绝对中子通量用2 3 8U(n ,f)与H(n ,p)反应来刻度。测量结果表明 ,氚的质心系微分截面在中子能量为 3.6 7MeV时很接近 90°对称 ,而到 4 .4
- 张国辉唐国有陈金象施兆民刘广智张雪梅陈泽民
- 关键词：屏栅电离室微分截面中子通量
- β反散射测厚的理论公式及其实验检验
- 某种基底材料(底材)上所复盖的另一种材料(面材)的厚度可用β反散射法测量。β反散射测厚法是一种适于多种镀层或涂层的简便而精确的无损检测方法,为了简化测量程序、提高测量精度, 特别是为了能用微处理机自动给出测厚结果,必须知...
- 兰克坚黄可发陈泽民
