刘慧
- 作品数：4 被引量：2H指数：1
- 供职机构：北京龙芯中科技术服务中心有限公司更多>>
- 发文基金：国家自然科学基金国家重点基础研究发展计划国家高技术研究发展计划更多>>
- 相关领域：自动化与计算机技术电子电信更多>>
- 集成电路的时延测试应用及其过度测试问题研究
- 随着集成电路制造工艺的不断细化及芯片频率的不断提高，越来越多的跟时延相关的故障涌现出来。单纯的固定型故障(stuck-at)测试已经不足以保证芯片的可靠性和质量，用专用的时延测试方法来检测时延故障就变得很有必要。时延测试...
- 刘慧
- 关键词：时延测试集成电路
- 时延测试在一款通用微处理器上的应用
- 随着芯片制造工艺的发展和频率的提高,时延测试在微处理器测试中有着越来越重要的作用。本文介绍了一款通用微处理器上的时延测试,然后针对时延测试所引起的测试向量数的增加,介绍了一种测试向量集的优化流程,实验结果表明该优化流程将...
- 刘慧胡瑜李华伟李晓维
- 文献传递
- 龙芯3号多核处理器的低功耗测试技术被引量：2
- 2010年
- 龙芯3号是一款低功耗处理器芯片,要求测试时保持较低功耗.为了解决低功耗测试的问题,对龙芯3号测试功耗进行了细致分析,提出一套考虑测试时间和测试开销的低功耗测试方案,并对整套方案中的各种技术在功耗、面积、时延以及测试时间等方面进行了详细分析.针对龙芯3号测试功耗主要消耗在逻辑电路的翻转和测试时钟网络上的特点,采用IP级测试分割技术减少逻辑电路和时钟网络的翻转;采用门控时钟对局部扫描触发器进行控制减少单核扫描捕获期间的逻辑翻转,并采用了阻隔门技术、不关心位(X位)填充技术减少单核扫描移位的逻辑翻转.实验结果表明,龙芯3号4核处理器达到了预定小于15W的测试平均功耗需求,单个IP核最大平均功耗降低为6W左右,约是正常功能平均功耗的40%,有效地保证了芯片的测试质量.
- 齐子初刘慧石小兵韩银和
- 关键词：低功耗测试
- 具有多个同构IP核的片上系统芯片测试装置和方法
- 本发明公开了一种具有多个同构IP核的片上系统芯片测试装置和方法，该装置包括控制器，具有连接到相应每个同构IP核的多个控制信号接口，用于向每个同构IP核输入测试控制信号，控制对其中一个或者多个同构IP核进行测试，相同的测试...
- 刘慧齐子初胡伟武
