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文献类型

  • 3篇中文期刊文章

领域

  • 2篇理学
  • 1篇电子电信

主题

  • 2篇砷化镓
  • 2篇化学反应
  • 2篇
  • 2篇GAAS
  • 1篇扩散
  • 1篇XPS研究
  • 1篇GAAS(0...
  • 1篇MN

机构

  • 3篇复旦大学
  • 1篇浙江大学
  • 1篇浙江工学院
  • 1篇浙江工业大学

作者

  • 3篇徐敏
  • 3篇朱兴国
  • 3篇董国胜
  • 3篇金晓峰
  • 3篇张明
  • 1篇陈艳
  • 1篇王迅

传媒

  • 3篇物理学报

年份

  • 1篇1996
  • 1篇1995
  • 1篇1993
3 条 记 录,以下是 1-3
排序方式:
亚稳态γ-Mn与GaAs(100)界面的形成:扩散和化学反应
1995年
利用低能电子衍射、电子能量损失谱和X射线电子能谱,对亚稳态了γ-Mn在清洁、有序的GaAs(100)表面的淀积过程进行了研究.研究结果表明,淀积初期锰的生长是层状的.在生长过程中界面发生互混井伴随着Mn与衬底间的化学反应.我们用一简单的模型对上述过程进行了理论计算,得到的结果与实验基本吻合.这对于进一步理解亚稳态γ-Mn的形成机理具有重要意义.
张明董国胜徐敏陈艳金晓峰朱兴国
关键词:扩散化学反应
GaAs(001)表面外延生长Mn薄膜的XPS研究
1996年
利用x射线光电子能谱的深度剖面技术,对不同衬底温度下分子束外延生长的Mn薄膜及其与GaAs(001)衬底间的界面进行了元素组分和化学结合状态随深度变化的研究。实验发现衬底温度等于400K时制备的fcc-Mn/GaAs(001)体系中,fcc-Mn层与GaAs衬底之间存在一层较厚的Mn-Ga-As的缓冲层;衬底温度等于300K(室温)时制备的a-Mn/GaAs(001)体系中也存在类似的缓冲层,但它的厚度与fcc-Mn的情形相比要小得多;而当衬底温度等于450K时制备的体系在GaAs衬底之上全部是Mn-Ga-As的合金,并不存在Mn占绝对优势的区域。结果表明生长中保持一定的衬底温度(约400K),以获得适当厚度的缓冲层,对于制备Fcc-Mn是一个必不可少的条件。
徐敏朱兴国张明董国胜金晓峰
关键词:砷化镓
Mn/GaAs(100)界面的形成和化学反应的研究
1993年
利用低能电子衍射(LEED)、X射线光电子能谱(XPS)、电子能量损失谱(EELS)、紫外光电子能谱(UPS),对室温下Mn在GaAs(100)4×1表面的淀积过程进行了研究。研究结果表明,当锰的覆盖度θ≥0.25nm时,LEED图案完全消失,表明Mn没有生长成单晶。LEED,EELS的结果都表明淀积初期是层状生长的。对XPS的Ga2p_(3/2),As2p_(3/2)的峰形、强度进行分析,可以知道在很小的覆盖度下,Mn就与衬底反应。置换出的Ga被局限在离原来的界面约3nm以内的区域内;而As以As-Mn化合物的形式偏析在Mn层的表面。在淀积的后期,Mn在GaAs表面也是层状生长的。UPS的结果直观地支持了XPS的结论。
张明董国胜李喆深徐敏金晓峰王迅朱兴国
关键词:砷化镓化学反应
共1页<1>
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