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武乾文

作品数：15 被引量：29H指数：4
供职机构：中国电子科技集团第五十八研究所更多>>
发文基金：江苏省自然科学基金国家自然科学基金更多>>
相关领域：电子电信自动化与计算机技术电气工程经济管理更多>>

合作作者

文献类型

  • 14篇期刊文章
  • 1篇专利

领域

  • 10篇电子电信
  • 4篇自动化与计算...
  • 1篇经济管理
  • 1篇电气工程

主题

  • 4篇DSP
  • 3篇电路
  • 3篇自测试
  • 3篇内建自测试
  • 3篇集成电路
  • 2篇编程
  • 2篇DSP结构
  • 2篇存储器
  • 1篇导通
  • 1篇导通电阻
  • 1篇低压差
  • 1篇低压差分信号
  • 1篇低噪
  • 1篇低噪声
  • 1篇低噪声放大器
  • 1篇电路测试
  • 1篇电阻
  • 1篇抖动
  • 1篇信号
  • 1篇眼图

机构

  • 14篇中国电子科技...
  • 1篇南京信息工程...
  • 1篇中国电子科技...
  • 1篇华润赛美科微...

作者

  • 15篇武乾文
  • 4篇张凯虹
  • 3篇周亚丽
  • 2篇周冬雁
  • 2篇徐德生
  • 2篇冯妍
  • 1篇赵益波
  • 1篇屠莉敏
  • 1篇解维坤
  • 1篇郭晓宇
  • 1篇朱卫良
  • 1篇章慧彬
  • 1篇武新郑
  • 1篇柴海峰
  • 1篇周亚丽
  • 1篇陶雪峰
  • 1篇苏扬
  • 1篇陆锋
  • 1篇周辰

传媒

  • 9篇电子与封装
  • 2篇中国集成电路
  • 1篇国外电子测量...
  • 1篇计算机与数字...
  • 1篇集成电路应用

年份

  • 2篇2022
  • 2篇2018
  • 1篇2016
  • 1篇2014
  • 1篇2012
  • 2篇2011
  • 1篇2010
  • 2篇2006
  • 3篇2003
共 15 条 记 录，以下是 1-10
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排序方式：
低噪声放大器的自动测试开发被引量：2
2016年
如何快速又精确地输出低噪声放大器的测试值并使测试值符合测试规范是研究重点。基于多个测试仪器对低噪声放大器的特性参数进行测试开发。矢量网络分析仪完成S参数的测试,噪声测试仪完成噪声系数测试,信号源与频谱仪配合完成三阶交调交叉点测试,信号源与功率计配合完成1 d B增益压缩点测试。通过GPIB或TCP/IP实现仪器通信,使用计算机编程对整个流程实现自动控制,最后将测试结果返回计算机并显示,测试结果符合规范。实验证明,在实际应用中该方法快速精确并具有很好的通用性,可拓展到其他芯片的测试。
张凯虹苏扬武乾文
关键词：低噪声放大器S参数噪声系数
TMS320C6X DSP结构与测试方法研究被引量：2
2006年
本文简要介绍了DSP发展历程和基本特点,阐述了TMS320C6X的基本功能及结构特点,对TMS320C6X的测试原理和测试方法进行了研究和探索。
陆锋武乾文周亚丽陶雪峰
关键词：TMS320C6XDSP
一种基于应用模式的DSP测试技术被引量：5
2018年
随着集成电路技术的飞速发展,DSP广泛应用于视频和通信领域,包括移动蜂窝网络和宽带无线基站以及国防军事装备。为筛选出合格的元器件,其测试技术得到重视及研究。简要介绍了DSP的重要组成部分,提出一种基于应用模式的DSP测试方法。研究使用测试机代替实装测试板测试的新方法,使用测试机代替Flash向DSP电路灌入相应程序,将实装功能测试部分移植到测试机上实现,同时可以在测试机上实现一些简单的直流参数测试。最后通过代码指令解读,可以全面掌握TI公司TMS320C6000系列DSP电路的程序加载过程,实现正向开发TI公司TMS320C6000系列DSP电路测试代码。
武乾文奚留华郭晓宇
关键词：DSP
一种基于有限状态机的可编程存储器内建自测试方法
本发明涉及一种基于有限状态机的可编程存储器内建自测试方法，所述方法通过三个计数器驱动的可编程Mbist控制模块、算法模块、比较分析模块和待测BRAM实现。本发明中算法模块集成了8种测试算法并根据每个测试算法的特点生成特征...
葛云侠陈龙赵益波张凯虹解维坤武乾文康培培
一种精确测量MOSFET晶圆导通电阻的方法被引量：4
2014年
导通电阻的准确测量是低导通电阻MOSFET晶圆测试中的一个难点。要实现毫欧级导通电阻的测试,必须用开尔文测试法;但实际的MOSFET晶圆表面只有两个电极(G、S),另外一个电极(D)在圆片的背面,通常只能将开尔文的短接点接在承载圆片的吸盘边缘,无法做到真正的开尔文连接,由于吸盘接触电阻无法补偿而且变化没有规律,导致导通电阻无法精确测量。介绍了一种借用临近管芯实现真正开尔文测试的方法,可以实现MOSFET晶圆毫欧级导通电阻准确稳定的测量。
顾汉玉武乾文
关键词：MOS管导通电阻自动测试设备晶圆测试管芯
基于Nios Ⅱ的Serial EEPROM测试方法研究
2006年
文章介绍了Serial EEPROM的测试原理,提出了一种基于Nios Ⅱ软核CPU测试Serial EEPROM 的方法,该方法具有稳定性高、所需器件少、可编程、低成本等优点。在Serial EEPROM的大量测试中可以代替昂贵的测试系统,是一种性价比较高的替代测试方案。
周亚丽周辰武乾文周冬雁
关键词：SERIALEEPROMNIOS编程
一种优化FPGA内嵌BRAM自检测March C+算法被引量：1
2022年
在现场可编程门阵列内嵌块存储器(BRAM)测试中,传统测试方法存在故障覆盖率不高、测试内容较多、测试成本较高等问题。为了提高故障覆盖率,在March C+算法的基础上,提出一种March CG新算法。该算法通过增加连续写操作和测试算法的数据背景提高字内耦合故障、写干扰故障覆盖率。构建高效率存储器内建自测试电路,采用March CG算法实现对单个BRAM和多个BRAM的测试。实验表明,在单个BRAM测试中,相比March C+算法,March CG算法对故障的覆盖率提高了13.6%;在多个BRAM测试中,对BRAM资源的覆盖率达到了100%。
葛云侠武乾文赵益波陈龙
关键词：存储器内建自测试
基于ATE的ADSP测试被引量：2
2018年
随着集成电路技术的飞速发展,ADSP的应用越来越广泛,其测试技术得到广泛的重视及研究。简要介绍了ADSP的重要组成部分,提出一种ATE对ADSP测试的方法。ADSP的测试包括功能测试、直流参数测试及交流参数测试,其中功能测试对ADSP是至关重要的。以ADSP-TS201S为例,其功能测试是通过Ultra Edit软件编辑生成测试码,导入测试仪器,对被测器件进行地址叠加操作,以检查其功能。主要讲述ADSP功能及交流参数测试的关键技术及其注意事项。
武乾文奚留华张凯虹
关键词：ATEADSP交流参数
DSP结构与测试方法研究被引量：4
2010年
简要介绍了DSP发展历程和基本特点,阐述了DSP的基本功能及结构特点,对DSP的测试原理和测试方法进行了研究和探索。
武乾文冯妍
关键词：DSP
集成电路标准测试产业化服务探讨
2003年
集成电路产业是一个系统而庞大的群体性产业,集成电路产业群体中每一项产业都有着特殊的地位和作用,包括:集成电路的市场、集成电路的设计、工艺加工(foundry)、测试、封装、集成电路的应用、以及集成电路设备及原材料等,缺少其中任何一项产业都将阻碍我国集成电路产业的进程和发展。
徐德生周亚丽武乾文
关键词：集成电路IC产业
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