陆少兰
- 作品数:10 被引量:50H指数:6
- 供职机构:北京有色金属研究总院更多>>
- 相关领域:理学轻工技术与工程语言文字更多>>
- X射线荧光光谱在稀土元素分析中的应用
- 陆少兰李世珍
- 关键词:光谱分析X射线荧光光谱法稀土族
- 银饰品标准样品的研制被引量:6
- 1998年
- 本文叙述了银饰品标准样品的研制。该标样表面光滑、成分均匀、无缩孔。成分为Ag、Cu、Zn、Ni,适用于银饰品的无损检测。
- 宋永清陆少兰卜赛斌卜赛斌闵剑梅刘颂禹郝贡章刘洋张泉
- 关键词:银饰品无损检测X射线荧光光谱
- 高纯Eu_2O_3中稀土杂质的化学-X射线荧光光谱法测定被引量:10
- 1989年
- 采用锌粉还原-P507萃淋树脂分离和富集高纯Eu_2O_3中的稀土杂质,用盐酸洗脱,NH_4OH沉淀、过滤制片后,用X射线荧光光谱法测定试样中14个稀土杂质。选择了该法制片和测定的各项条件。研究表明该法用基体铕作载体,省去了外加载体并简化了氧化物灼烧过程,且该法大部分稀土元素的测定下限为1μg,回收率为80~120%,变异系数优于14%。
- 陆少兰王振莹李世珍李建华伍星
- 关键词:EU2O3稀土荧光光谱
- 全文增补中
- 白银制品中银含量的能量色散X射线荧光光谱无损检测被引量:9
- 2000年
- 用放射性同位素源激发小型能量色散X 射线荧光光谱仪对银饰品、餐具、摆件中的银含量进行无损快速定量测定, 在银含量为10-0 % ~99-9 % 的范围内, 测定精度和准确度均能满足实际检测误差要求。测定结果与大型的波长色散型X 射线荧光光谱仪一致。
- 郝贡章刘洋卜赛斌陆少兰宋永清姜维军
- 关键词:X射线荧光光谱银饰品无损检测
- X射线荧光光谱滤纸片法测定混合稀土溶液中15种稀土元素被引量:9
- 1992年
- 本文采用溶液滤纸片法直接测定稀土萃取过程水溶液中15种稀土元素。方法具有快速、简便、标样制备简单等优点。由于省去了由溶液转化成氧化物的化学处理过程,不需要磨样,从而简化了制样手续,缩短了制样时间。本法获得了较好的准确度和精密度,有一定的实用价值。
- 李世珍陆少兰李建华
- 关键词:稀土
- 冶金产品分析方法 X射线荧光光谱法通则
- 本标准规定了用X射线荧光光谱法进行元素定量分析的一般事项,包括所涉及的常用术语、基本原理、仪器、样品处理、定量分析等,供以X射线管作激发源的波长色散X射线荧光光谱仪使用。 本标准适用于制(修)订冶金产品的X射线荧光光谱法...
- 卜赛斌罗建平陆少兰刘洋宋永清
- 关键词:X射线荧光光谱法冶金
- X射线荧光光谱法在稀土元素分析中的应用被引量:19
- 1995年
- 本文研究了X射线荧光光谱在混合稀土氧化物和高纯稀土氧化物分析中的应用,并探讨了在常量分析中影响分析准确度和精密度的主要因素:样品及标样制备,基体效应校正方法和在痕量分析中降低检测限的方法:选择最佳测量条件,降低背景,与分离富集手段相结合,取得满意的结果。
- 陆少兰李世珍郝贡章许佩珍李建华刘洋
- 关键词:稀土元素X射线荧光光谱
- Dy-Ho-Er-Y-Tm稀土分离流程液的X荧光光谱点滴滤纸片薄样测定被引量:8
- 1989年
- 采用 X 荧光光谱点滴滤纸片薄样法直接测定江西龙南低钇稀土全分离工艺扩大试验中的萃取液分组组分 Dy-Ho-Er-Y-Tm。方法快速、准确、制样简便,避免了粉末氧化物制样的繁琐化学操作和磨样压片等手续,大大缩短了分析周期,有力地促进了工艺研究的进程。本法分析范围宽,低含量的 Tm_2O_3,其测定下限为0.05%(绝对量为几微克),高含量的 Er_2O_3可达60%。方法精密度好,其变异系数除低含量的 Tm_2O_3为1.2%外,其余均优于0.8%。
- 郝贡章陆少兰刘洋许佩珍
- 关键词:稀土
- X射线荧光光谱法测定Dy_2O_3及其杂质Eu_2O_3,Gd_2O_3,Tb_4O_7,Ho_2O_3,Er_2O_3和Y_2O_3被引量:3
- 1999年
- 宋永清陆少兰
- 关键词:X射线荧光光谱法XRF