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黄绍华

作品数:4 被引量:3H指数:1
供职机构:西南应用磁学研究所更多>>
相关领域:电子电信更多>>

文献类型

  • 3篇期刊文章
  • 1篇会议论文

领域

  • 3篇电子电信

主题

  • 1篇振荡器
  • 1篇铁氧体
  • 1篇铁氧体隔离器
  • 1篇可靠性
  • 1篇可靠性研究
  • 1篇可靠性增长模...
  • 1篇隔离器
  • 1篇YIG
  • 1篇YIG振荡器
  • 1篇L波段
  • 1篇磁性
  • 1篇磁性材料
  • 1篇磁性元件

机构

  • 4篇西南应用磁学...

作者

  • 4篇黄绍华
  • 1篇张礼科
  • 1篇余声明

传媒

  • 3篇磁性材料及器...
  • 1篇第三届国际可...

年份

  • 1篇1998
  • 1篇1996
  • 1篇1993
  • 1篇1991
4 条 记 录,以下是 1-4
排序方式:
磁性元器件使用可靠性研究被引量:3
1993年
试图从磁性材料及器件在设计制造中存在的固有可靠性,阐述正确使用磁性元器件的方法,从而提出磁性元器件使用可靠性初探.
黄绍华余庆珍
关键词:磁性元件可靠性磁性材料
L波段宽温隔离器
1991年
本文主要讨论在高场设计基础上,有效地运用温度补偿、宽频带匹配和磁屏蔽等技术措施,获得了具有宽温、宽带特性的隔离器,其典型性能是:频率范围为0.95~1.225(GH_z),工作温度为-55~+85(℃),正向损耗为0.64(dB),反向损耗为21(dB),输入电压驻波比为1.25,器件尺寸为31.8×31.8×19.1(mm)~3。较好地满足了微波整机对隔离器的宽温性能要求.
黄绍华
关键词:铁氧体隔离器L波段
YIG调谐振荡器(YIO)可靠性增长与评估技术
1998年
通过故障报告、分析、纠正即FRACAS管理[1],按试验、分析和纠正(TAAE)循环并开展正交试验设计,利用逐步消除失效模式法和克劳可靠性阶段约束增长模型等增长、评估技术,使YIG振荡器的平均无故障工作时间MTBF的无偏估计值M(T)由初期的5000小时增长到44703小时,在置信度为70%情况下,单侧下限值ML(T)为21457小时,实现了YIG振荡器的可靠性增长目标。
黄绍华张礼科
关键词:YIG
可靠性增长模型在YIG振荡器中的应用
实施故障报告、分析、纠正即FRACAS管理,按试验、分析和纠正的TAAF循环并开展正交试验设计。利用逐步消除失效模式法和克劳可靠性阶段约束增长模型等增长、评估技术,使YIG振荡器的平均无故障工作时间MTBF的无偏估计值M...
黄绍华余声明
关键词:振荡器
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