史坚
- 作品数：3 被引量：8H指数：2
- 供职机构：上海交通大学更多>>
- 发文基金：国家自然科学基金上海市科学技术发展基金“上海－应用材料研究与发展”基金更多>>
- 相关领域：理学电子电信机械工程更多>>
- 用ATR法测量晶体的压电系数和电光系数被引量：4
- 2005年
- 提出了一种测量晶体压电系数和电光系数的新方法。晶体厚度和折射率的变化导致衰减全反射(ATR)谱的同步角发生移动,进而引起反射率的变化。选择两个不同阶导模的工作角,施加电压分别测出反射光强的变化,可得到压电系数和电光系数。反射率相对于厚度和折射率的灵敏度分别可达到108m-1和103。该方法可同时测量压电系数和电光系数,测量灵敏度高,样品结构简单,实验装置简便,所需的测量电压低。
- 尚有魁沈启舜史坚曹庄琪杨艳芳
- 关键词：衰减全反射压电系数电光系数
- 衰减全反射测量系统的研究
- 衰减全反射结构是光学上一种较为特殊的反射型结构，在一定的条件下，反射光的空间强度和频谱成分都会受到结构参数的控制和影响，同时反射光也携带上了结构本身的信息。因此利用衰减全反射原理可以精确地测量一些物理参数。
本...
- 史坚
- 关键词：光反射衰减全反射压电系数
- 文献传递
- 非扫描衰减全反射探测法监控光漂白过程被引量：4
- 2003年
- 提出了一种基于衰减全反射原理的实时探测方法。其实验框架由半导体激光器、空间滤波器、聚焦透镜、耦合棱镜、CCD接受装置等组成。激光束先经空间滤波器扩束 ,再由透镜聚焦 ,以一定角宽度的光束聚焦于耦合棱镜底面 ,由于棱镜底面的波导结构 ,在反射光斑中会出现若干条吸收峰 ,即显示出标志波导模式的一组黑线 ,若外界条件变化时 (如紫外光照射、电极化等 ) ,波导薄膜某些参量会受外界条件的变化而变化 ,表现为黑线的移动 ,可根据黑线的移动量 ,精确测量每一时刻波导薄膜的折射率和膜厚等参量。利用这种技术 ,可以广泛地用于条波导制作、镀膜监控、薄膜极化监控。
- 朱俊史坚袁文曹庄琪沈启舜
- 关键词：光学测量聚合物波导
