贺洪波
- 作品数：201 被引量：424H指数：12
- 供职机构：中国科学院上海光学精密机械研究所更多>>
- 发文基金：国家自然科学基金国家高技术研究发展计划上海市青年科技启明星计划更多>>
- 相关领域：理学电子电信一般工业技术机械工程更多>>
- 椭偏仪测量超薄膜层的精度提升方法和装置
- 一种提升椭偏仪测量超薄膜层精度的装置，包括直角三棱镜、平凸球面透镜、超薄膜层和玻璃基底。通过在椭偏仪中引入Otto结构激发表面等离子体共振，利用微米尺度光束测试分析椭偏参数随入射波长、入射角度、空气隙厚度的变化曲线，拟合...
- 胡国行单尧贺洪波赵元安谷利元曾爱军
- 文献传递
- 磷酸盐激光玻璃元件的装运箱
- 一种磷酸盐激光玻璃元件的装运箱，包括箱体、搭扣、合页、箱盖、箱盖密封槽、箱体密封条，通过所述的合页和搭扣将所述的箱盖密封槽和箱体密封条卡口密合，使所述的箱体与所述的箱盖构成一个密封体，其特点在于所述的箱体的一个端面设有湿...
- 单海洋徐学科贺洪波杨明红易葵邵建达
- 文献传递
- 保护层对355nm Al2O3/MgF2高反射薄膜性能的影响
- 采用电子束蒸发沉积技术在相同的沉积条件下制备了355nm AlO/MgF高反射薄膜,这些薄膜最外层分别镀有不同厚度的SiO和MgF保护层。用Lambda900光谱仪测试了样品的反射光谱。用ZYGO公司生产的MarkⅢ-G...
- 占美琼贺洪波
- 关键词：保护层高反膜
- 文献传递
- 不同退火过程对紫外HfO_2/SiO_2,Y_2O_3/SiO_2多层膜性能的影响被引量：1
- 2009年
- 采用直升式和阶梯式加热法对电子束热蒸发镀制出的HfO2/SiO2,Y2O3/SiO2多层膜进行了400℃的退火处理,发现采用阶梯式加热法退火后多层膜在190～300 nm范围内的峰值反射率均得到提高,说明此种后处理方法可能会改善膜层在紫外波段的光学性能。再对HfO2,,2O3的单层膜进行行相应的退火处理,发现退火后HfO2膜层的物理厚度减小从而发生蓝移现象;直升式退火使Y2O3膜层的折射率变小引起蓝移,阶梯式退火使得Y2O3膜层的物理厚度减小引起蓝移。对退火前后样品的微结构进行X射线衍射(XRD)法测量发现,退火可以使材料进行晶化,并且采用直升式加热法后材料的结晶度更大,从而膜内散射变大,会引起膜层反射率的轻微降低。
- 袁景梅贺洪波易葵邵建达范正修
- 关键词：光学薄膜紫外退火
- 杂质银对氧化锌薄膜气敏光学特性的影响被引量：15
- 1998年
- 用反应式射频磁控溅射方法制备了纯氧化锌（ＺｎＯ）薄膜和掺Ａｇ的ＺｎＯ气敏光学传感薄膜。测量了这些薄膜在ＮＯｘ气体中的透射光谱，然后由透射光谱获得了灵敏度的变化规律，发现掺Ａｇ后的ＺｎＯ薄膜对ＮＯｘ气体的灵敏度高于纯ＺｎＯ薄膜，用俄歇电子能谱（ＡＥＳ）测试了这些薄膜的组分，发现当掺Ａｇ量为５％时灵敏度最高。并结合朗缪尔（Ｌａｎｇｍｕｉｒ）型吸附平衡关系式解释了这些现象，理论和实验结果能很好地相符。
- 贺洪波范正修
- 关键词：氧化锌
- 双盘连接基片装置
- 一种用于Veeco射频离子束溅射镀膜机的双盘连接基片装置，该装置由固定盘、外接盘和基片盖板构成，该固定盘的中心开有一轴套孔，该固定盘的边缘设有N个不穿透的螺孔；该外接盘的边缘与固定盘的螺孔相对应处也开设N个尺寸相同的通孔...
- 王英剑葛建忠贺洪波范正修
- 文献传递
- 相干光束同轴合成的方法
- 一种相干光束同轴合成的方法，其特点是包括下列步骤：①将一束p偏振光和一束s偏振光经过一块偏振合束镜同轴地合为一束椭圆偏振光；②然后经过一块1/4波片和一块1/2波片将所述的椭圆偏振光变为一束s偏振光或一束p偏振光；③该合...
- 董洪成许程肖祁陵邵建达易葵贺洪波范正修
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- 基于表面热透镜的薄膜弱吸收测量的调制频率研究被引量：4
- 2010年
- 激励光辐照薄膜的表面热透镜效应中,调制频率的大小影响样品内热波的热扩散深度。通过频率控制热波扩散深度可以探测不同薄膜层面的吸收和热缺陷分布。理论分析了不同薄膜厚度下调制频率对热扩散深度的影响。结果表明,薄膜的热导率越小、膜厚越厚,基底中的热扩散深度就越浅,不同材料的基底对吸收测量带来的影响就越小;在膜厚一定的情况下,调制频率越高,基底中的热扩散深度越浅,不同基底样品的光热信号将趋于相等。
- 陶春先李霞李大伟贺洪波邵建达
- 关键词：薄膜光学调制频率
- 一种低吸收低热畸变薄膜的实现方法
- 一种低吸收低热畸变薄膜及其制备方法，包括基础膜系选择、膜系优化、基板的超声清洗、基板的真空离子束清洗、离子束溅射制备薄膜、退火后处理；将膜系分为低吸收控制层和低热畸变控制层两部分分别优化的膜系优化方法，并通过镀膜前的基板...
- 王胭脂王志皓邵建达张宇晖陈昌朱晔新晋云霞邵宇川易葵贺洪波
- 文献传递
- 光学材料损耗的测量装置和测量方法
- 一种光学材料损耗的测量装置和测量方法，本发明通过测量仅厚度不同的样品组在同一入射角下的透过率差异来去除表面损耗的影响，从而获得样品的材料损耗。测量时通过消除光束偏移和表面缺陷影响提高测量精度。通过增加样品的组数，提高整体...
- 贺洪波曹珍胡国行赵元安王岳亮彭小聪
- 文献传递
