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吴志明

作品数：3 被引量：6H指数：2
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相关领域：电子电信一般工业技术更多>>

合作作者

文献类型

  • 3篇中文期刊文章

领域

  • 2篇电子电信
  • 1篇一般工业技术

主题

  • 2篇埋层
  • 2篇光热辐射测量
  • 1篇多层介质
  • 1篇振幅
  • 1篇特征矩阵
  • 1篇无损检测
  • 1篇介质
  • 1篇矩阵
  • 1篇矩阵方法
  • 1篇红外
  • 1篇红外探测
  • 1篇厚度
  • 1篇非接触
  • 1篇非接触测量
  • 1篇复合材料
  • 1篇层状复合
  • 1篇层状复合材料
  • 1篇复合材

机构

  • 3篇苏州大学

作者

  • 3篇吴志明
  • 3篇李佩赞
  • 1篇钱霖

传媒

  • 1篇红外与毫米波...
  • 1篇红外技术
  • 1篇红外研究

年份

  • 1篇1993
  • 2篇1990
共 3 条 记 录，以下是 1-3
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排序方式：
PTR技术应用于层状复合材料埋层性质的无损检测
1990年
导出了光学不透明三层样品的透射PTR信号的振幅和位相公式;对几种样品的理论分析和实验结果说明,PTR技术可应用于复合层状材料埋层性质的检测;利用导出的振幅公式和实验数据确定的NiCuNi样品埋层的厚度,与实际值符合得很好;还对铜粘合件中间层L-Ⅱ型导热绝缘胶的热扩散率进行了测量。
吴志明李佩赞徐菁菁
关键词：复合材料
多层介质PTR的矩阵方法被引量：3
1993年
从介质层的特性矩阵出发,导出了多层介质热波透射系数和反射系数的矩阵计算公式,并由此推出多层样品光热辐射信号的表达式。给出的两个三层样品的计算结果与实验值符合得很好。
钱霖吴志明李佩赞
关键词：光热辐射测量多层介质特征矩阵
多层样品的PTR理论及其埋层厚度的非接触测量被引量：5
1990年
从理论上推导了一般情况下多层样品PTR信号的解析式,分析了光学不透明三层样品。用推导的振幅和位相表达式拟合三层样品的实验数据,并计算出中间层的厚度。
李佩赞吴志明郑小明管国兴
关键词：光热辐射测量振幅红外探测
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共1页<1>
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