您的位置: 专家智库 > >

罗凯升

作品数:7 被引量:0H指数:0
供职机构:浙江大学更多>>
发文基金:国家自然科学基金更多>>
相关领域:自动化与计算机技术电子电信更多>>

文献类型

  • 4篇专利
  • 2篇期刊文章
  • 1篇学位论文

领域

  • 3篇自动化与计算...
  • 2篇电子电信

主题

  • 5篇光学邻近校正
  • 3篇向量
  • 2篇冗余
  • 2篇冗余计算
  • 2篇散射
  • 2篇矢量
  • 2篇矢量化
  • 2篇可制造性
  • 2篇可制造性设计
  • 2篇环境识别
  • 2篇光刻
  • 2篇分辨率
  • 2篇版图
  • 2篇参数初始化
  • 2篇层次管理
  • 2篇层次化
  • 2篇层次化结构
  • 2篇成品率
  • 2篇初始化
  • 1篇电路

机构

  • 7篇浙江大学

作者

  • 7篇罗凯升
  • 6篇史峥
  • 2篇严晓浪
  • 2篇林斌
  • 2篇齐晶
  • 1篇耿臻
  • 1篇林斌
  • 1篇齐晶
  • 1篇吕楠

传媒

  • 1篇华东理工大学...
  • 1篇传感器与微系...

年份

  • 2篇2014
  • 1篇2013
  • 3篇2012
  • 1篇2011
7 条 记 录,以下是 1-7
排序方式:
一种用于光学邻近校正的区别化层次处理方法
本发明公开了一种用于光学邻近校正的区别化层次管理方法。包括如下步骤:1)建立光学仿真模型以及数据初始化;2)由光学仿真模型和版图相关信息确定图形相互影响的距离;3)对版图各个区域进行识别,区分相似区域和非相似区域,并做不...
罗凯升严晓浪史峥
用矢量化参数确定规则插入散射条配方的方法
本发明公开了一种用矢量化参数确定规则插入散射条配方的方法。本发明方法包括光刻模型、光学邻近校正、散射条参数初始化,载入一维图形,计算工艺窗口得到一维向量最优解,载入二维图形,计算工艺窗口得到二维向量最优。本发明能快速确定...
齐晶史峥林斌罗凯升
纳米级电路分辨率增强技术及热点检测技术研究
遵循摩尔定律的轨迹,集成电路的发展进入纳米级时代。光刻是集成电路制造的核心步骤,但是由于光源技术发展的滞后,193纳米波长光刻仍然是纳米级集成电路制造的主要选择。当集成电路发展到90纳米以及以下工艺节点时,使用193纳米...
罗凯升
关键词:分辨率增强支持向量机集成电路可制造性设计
使用测试图形法优化亚分辨率辅助图形
2012年
在亚波长光刻领域,基于规则插入亚分辨率辅助图形是一种重要的技术。现有的方法需要利用经验改善亚分辨率辅助图形,且不考虑光学邻近校正的效果。提出了一种新的利用测试图形优化亚分辨率辅助图形的方法。与一般的光学邻近校正流程结合,该方法能解决工艺窗口过小和亚分辨率辅助图形刻出等问题。通过对标准电路版图的测试,对边放置误差和工艺窗口进行了测量。边放置误差相比传统方法减小了10%,同时,不同工艺窗条件下的边放置误差也有改善。
齐晶史峥林斌罗凯升
关键词:可制造性设计光刻光学邻近校正
一种用于光学邻近校正的区别化层次处理方法
本发明公开了一种用于光学邻近校正的区别化层次管理方法。包括如下步骤:1)建立光学仿真模型以及数据初始化;2)由光学仿真模型和版图相关信息确定图形相互影响的距离;3)对版图各个区域进行识别,区分相似区域和非相似区域,并做不...
罗凯升严晓浪史峥
文献传递
用矢量化参数确定规则插入散射条配方的方法
本发明公开了一种用矢量化参数确定规则插入散射条配方的方法。本发明方法包括光刻模型、光学邻近校正、散射条参数初始化,载入一维图形,计算工艺窗口得到一维向量最优解,载入二维图形,计算工艺窗口得到二维向量最优。本发明能快速确定...
齐晶史峥林斌罗凯升
文献传递
用于光刻系统仿真的多边形处理算法
2014年
为提高光刻仿真效率,通过对光刻原理进行研究,提出了2种多边形处理算法,将掩模上的多边形图案进行切分优化,将其划分成若干矩形或三角形。在Linux环境下应用C语言设计出一个完整的光刻仿真系统,设计的具体光学参数为:光源波长为193nm,数值孔径为0.3~0.8,部分相干系数可调范围为0.2~0.8,可一次性仿真1μm×1μm到10μm×10μm范围内的45 nm^0.18μm工艺的复杂版图,并通过多次实验进行验证。实验结果表明:原版图图像的边缘细节得到保留,且该算法有效地减少了光刻模拟的计算复杂度与计算时间,整体效率提升20%以上,为当前智能传感器系统芯片的制造节省了宝贵时间。
吕楠史峥罗凯升耿臻
关键词:传感器光刻仿真光学邻近效应
共1页<1>
聚类工具0