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文献类型

  • 4篇期刊文章
  • 3篇会议论文
  • 1篇学位论文
  • 1篇专利

领域

  • 8篇电子电信
  • 1篇自动化与计算...

主题

  • 3篇电路
  • 3篇自动测试仪
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  • 3篇参数测量
  • 2篇系统设计
  • 2篇集成电路
  • 2篇交流参数
  • 1篇电路结构
  • 1篇电路结构设计
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  • 1篇信道
  • 1篇信号
  • 1篇移动通信
  • 1篇移动通信业
  • 1篇移动通信业务
  • 1篇以太
  • 1篇以太网
  • 1篇以太网技术

机构

  • 9篇电子科技大学

作者

  • 9篇聂永峰
  • 6篇于东英
  • 4篇陈梦远
  • 3篇张斌
  • 2篇刘布民
  • 1篇段林甫
  • 1篇秦爽
  • 1篇甘智勇
  • 1篇曾泽嵘
  • 1篇宁新权
  • 1篇邓新峰

传媒

  • 2篇现代电子技术
  • 1篇压电与声光
  • 1篇单片机与嵌入...
  • 1篇计算机学会第...
  • 1篇第十五届计算...

年份

  • 1篇2018
  • 3篇2012
  • 5篇2011
9 条 记 录,以下是 1-9
排序方式:
基于TDC-GP2的信号交流参数测量系统设计
提出一种在集成电路测试仪中信号交流参数测量系统的软硬件设计方案,通过采用高速比较器和高分辨率时间测量芯片,该系统能够测量集成电路管脚信号的频率、脉宽、延迟时间,上升/下降时间.通过测量上升时间验证了该系统软硬件设计的正确...
聂永峰于东英陈梦远张斌
关键词:集成电路自动测试仪系统设计交流参数
文献传递
基于TDC-GP2的信号交流参数测量系统设计
聂永峰于东英陈梦远张斌
关键词:自动测试仪
基于TDC-GP2的信号交流参数测量系统设计
提出一种在集成电路测试仪中信号交流参数测量系统的软硬件设计方案,通过采用高速比较器和高分辨率时间测量芯片,该系统能够测量集成电路管脚信号的频率、脉宽、延迟时间,上升/下降时间。通过测量上升时间验证了该系统软硬件设计的正确...
聂永峰于东英陈梦远张斌
关键词:自动测试仪交流参数比较器阈值
文献传递
IC参数自动测试系统关键技术研究
在集成电路(Integrated Circuit,IC)产业中,芯片测试贯穿IC设计、生产、封装和应用的全过程。IC参数测试是芯片测试的一项重要内容,是确保芯片满足设计要求以及工程应用的必要手段。高性能和高可靠的IC参数...
聂永峰
关键词:自动测试系统功能模块
文献传递
一种改进的对抗软错误电路结构设计被引量:2
2011年
给出了一种改进的基于时钟沿的自我检测和纠正的电路结构,以纠正由单粒子翻转(SEU)引起的数据错误。简单概述了已有的检测和纠正SEU的电路结构,并在该电路的基础上提出了改进的电路结构,以实现对触发器以及SRAM等存储器的实时监控,并可以及时纠正其由于SEU引起的数据错误。采用内建命令进行错误注入模拟单粒子翻转对电路的影响。改进的电路与原来的电路相比,以微小的面积和较少的资源换取更高的纠错率。
聂永峰于东英曾泽嵘甘智勇陈梦远
关键词:SEUFPGA触发器
10G以太网光接口的FPGA实现被引量:2
2011年
1概述 随着人们对通信信息的充裕性、及时性和便捷性的要求越来越高,能够随时随地、方便而及时地获取所需信息,变得越来越重要。2002年,IEEE通过了10Gb/s速率的以太网标准——IEEE802.3ae。10G以太网作为传统以太网技术的一次较大的升级,在原有的千兆以太技术的基础上将传输速率提高了10倍,以满足人们对移动通信业务的要求。
于东英聂永峰刘布民
关键词:10G以太网FPGA实现IEEE802.3AE光接口以太网技术移动通信业务
BaO含量对一种微电子封装材料性能的影响被引量:2
2012年
采用传统固相反应法,制备了一种微电子封装材料,并对其进行了电、力、热性能测试,及XRD、SEM分析表征,具体研究了BaO含量对该材料性能的影响。结果表明:BaO对主晶相石英没有太大的影响,促进钡长石的形成,抑制方石英相的析出,其含量增加能在一定程度上改善材料的介电性能,但会逐渐破坏玻璃网络,影响到材料的力学和热学性能,导致抗弯强度降低,热膨胀系数减小。
于东英聂永峰邓新峰
关键词:微电子封装材料石英抗弯强度热膨胀系数
基于信道频域响应的室内运动检测方法
本发明提供一种基于信道频域响应的室内运动检测方法,本发明基于信道频域响应的室内运动检测方法,由于CFR对多径的表示精确到子载波层面上,所以CFR与CIR相比提供了更精细的无线链路表示,从而能够得到比使用CIR检测时更低的...
段林甫秦爽聂永峰吴国栋仰石柏思琪
文献传递
三模冗余在ASIC设计中的实现方法被引量:4
2012年
星载计算机系统处于空间辐照环境中,可能会受到单粒子翻转的影响而出错,三模冗余就是一种对单粒子翻转有效的容错技术。通过对三模冗余加固电路特点的分析,提出了在ASIC设计中实现三模冗余的2种方法。其一是通过Sy-no-psys的综合工具DesignCompiler对原设计进行综合,然后修改综合后的门级网表再次综合;其二是直接建立采用三模冗余加固的库单元。
宁新权刘布民聂永峰
关键词:三模冗余专用集成电路
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