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贾晓华

作品数:1 被引量:0H指数:0
供职机构:河北工业大学电气工程学院更多>>
发文基金:国防科技技术预先研究基金更多>>
相关领域:电子电信更多>>

文献类型

  • 1篇中文期刊文章

领域

  • 1篇电子电信

主题

  • 1篇砷化镓
  • 1篇离子注入
  • 1篇晶体管
  • 1篇
  • 1篇场效应
  • 1篇场效应晶体管

机构

  • 1篇河北工业大学
  • 1篇天津电子材料...

作者

  • 1篇杨瑞霞
  • 1篇李光平
  • 1篇贾晓华

传媒

  • 1篇河北工业大学...

年份

  • 1篇1999
1 条 记 录,以下是 1-1
排序方式:
非掺杂半绝缘LECGaAs中深施主缺陷对注入硅激活率的影响
1999年
通过测量GaAs金属半导体场效应晶体管(MESFET)的饱和漏-源电流分布研究了深施主缺陷EL2对半绝缘(SI)LECGaAs中注入硅(Si)激活率的影响,发现激活率随EL2浓度的增加而增加,讨论了EL2影响硅注入激活率的机理.
杨瑞霞贾晓华付浚李光平
关键词:砷化镓离子注入场效应晶体管
共1页<1>
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