邓海涛
- 作品数：6 被引量：8H指数：1
- 供职机构：北京工业大学电子信息与控制工程学院更多>>
- 发文基金：北京市自然科学基金国家教育部博士点基金国家高技术研究发展计划更多>>
- 相关领域：电子电信更多>>
- 一种测量半导体器件欧姆接触退化芯片及方法
- 一种测量半导体器件欧姆接触退化芯片及方法属于半导体技术，特别是半导体器件失效评估领域。本发明提供了一种专门测量欧姆接触退化的芯片，其特征在于：在至少有6个圆环电极的CTLM欧姆接触测试芯片的圆环形欧姆接触表面淀积有SiO...
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- 一种测量半导体器件欧姆接触退化芯片
- 一种测量半导体器件欧姆接触退化芯片属于半导体技术，特别是半导体器件失效评估领域。本实用新型提供了一种专门测量欧姆接触退化的芯片，其特征在于：在至少有6个圆环电极的CTLM欧姆接触测试芯片的圆环形欧姆接触表面淀积有SiO<...
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- 文献传递
- 大功率LED焊料层的可靠性研究
- 2016年
- 将功率循环方法应用于大功率LED焊料层的可靠性研究,对比分析了在650mA,675mA和700mA电流条件下大功率LED焊料层的热阻退化情况。实验结果表明,循环达到一定次数,大功率LED热阻才开始退化,并呈线性增加,从而引起光通量下降;另外,失效循环次数与电流值之间呈线性关系,并外推出正常工作条件下焊料层寿命为90 968次。对样品进行了超声波检测(C-SAM),发现老化后LED焊料层有空洞形成,这说明空洞是引起热阻升高的主要原因。
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- 关键词：大功率LED热阻
- GaAs基半导体激光器热特性被引量：8
- 2011年
- 对GaAs基808 nm半导体激光器进行恒流老化试验,并利用电学法观察退化过程中激光器有源区温度变化和热阻,发现有源区温度随老化时间明显上升,而热阻没有明显变化,同时测试了老化过程中激光器的电学和光学特性,经分析,激光器失效的主要原因是有源区载流子非辐射复合增加,引起激光器有源区温度上升,从而说明电学法热特性测试是检测激光器退化的有效方法之一,为进一步提高激光器的热管理技术和改善其热特性奠定了一定的基础。
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- 关键词：电学法热特性半导体激光器阈值电流
- 一种测量半导体器件欧姆接触退化芯片及方法
- 一种测量半导体器件欧姆接触退化芯片及方法属于半导体技术，特别是半导体器件失效评估领域。本发明提供了一种专门测量欧姆接触退化的芯片，其特征在于：在至少有6个圆环电极的CTLM欧姆接触测试芯片的圆环形欧姆接触表面淀积有SiO...
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- 文献传递
- 功率LED焊料层热疲劳试验方法研究及失效机理分析
- 随着发光二极管(LED)输出光功率的增加,其在照明领域得到广泛应用。在发光效率一定的限制下,输出光功率的增加主要依靠输入电功率的增加,导致其结温也随之升高。芯片的热量主要经由焊料层热传导至散热板,高结温至使焊料层承受更高...
- 邓海涛
