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常怀秋

作品数：9 被引量：10H指数：2
供职机构：国家纳米科学中心更多>>
发文基金：中国科学院知识创新工程重要方向项目更多>>
相关领域：一般工业技术机械工程自动化与计算机技术电气工程更多>>

合作作者

文献类型

  • 4篇期刊文章
  • 3篇专利
  • 2篇标准

领域

  • 3篇一般工业技术
  • 2篇机械工程
  • 1篇电气工程
  • 1篇自动化与计算...

主题

  • 3篇电镜
  • 3篇射电
  • 3篇透射电镜
  • 3篇纳米
  • 2篇灯丝
  • 2篇仪器管理
  • 2篇扫描电镜
  • 2篇扫描电子显微...
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  • 2篇实时图像
  • 2篇图像
  • 2篇自动化
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  • 1篇电子显微术
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作者

  • 9篇常怀秋
  • 4篇朴玲钰
  • 3篇贺蒙
  • 3篇范伟民
  • 2篇甘雅玲
  • 2篇王东亮
  • 2篇胡西学
  • 2篇王昱青
  • 2篇徐晓慧
  • 2篇何芳菲
  • 2篇郭宏博
  • 1篇任湘菱
  • 1篇彭开武
  • 1篇郭延军
  • 1篇唐芳琼
  • 1篇黄鹭

传媒

  • 1篇计量技术
  • 1篇分析仪器
  • 1篇电子显微学报
  • 1篇中国计量

年份

  • 1篇2024
  • 2篇2023
  • 1篇2016
  • 1篇2015
  • 1篇2013
  • 2篇2009
  • 1篇2008
共 9 条 记 录，以下是 1-9
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排序方式：
扫描电镜测量微纳米球形样品平均粒径的测量不确定度
2009年
以标称粒径为600纳米的亚微米球为例，分析了利用扫描电子显微镜测量微纳米球形样品平均粒径的测量不确定度主要来源，并在对各不确定度分量进行分别评估的基础上，给出了扩展测量不确定度。
常怀秋朴玲钰贺蒙
关键词：扫描电子显微镜平均粒径测量不确定度
二氧化硅微球的扫描电镜测长及形貌观察条件被引量：8
2008年
本文用日立S-4800型冷场发射扫描电镜对不同粒径二氧化硅微球进行测长研究及形貌观察,针对二氧化硅材料特性和工作目标,使用多种测试条件,通过结果对比,分别获得测定二氧化硅微球直径和进行形貌观察的适宜条件。
朴玲钰常怀秋刘军涛贺蒙任湘菱唐芳琼
关键词：扫描电镜二氧化硅微球形貌直径
纳米技术 多相体系中纳米颗粒粒径测量 透射电镜图像法
本文件描述了利用透射电子显微镜图像处理和分析技术进行纳米颗粒在多相体系中分散的粒径测量方法。本文件适用于固相多相体系中纳米颗粒的粒径测量和粒径分布。本文件也适用于在样品制备满足透射电子显微镜观察要求时的胶体和生物组织中纳...
常怀秋付新齐笑迎李婷杜志伟白露韩小磊高原郑强孙言张淑琴
一种灯丝定位系统、灯丝定位方法及应用
本发明属于机械工程与自动化领域，具体涉及一种灯丝定位系统、灯丝定位方法及应用。所述系统包括定位模块(J)和检测模块(E)；其中，所述检测模块(E)用于所述定位模块(J)上灯丝位置实时图像的监测。本发明系统原理简单，操作方...
甘雅玲胡西学郭宏博王东亮王昱青何芳菲常怀秋徐晓慧范伟民
文献传递
扫描电子显微镜测长标准物质:线宽标物与粒度标物
2009年
扫描电子显微镜（以下简称“扫描电镜”）是一种被广泛应用于材料微区形貌分析和微小尺寸测量的仪器设备。我国早在1988年就发布了JJG550—1988（（扫描电子显微镜（试行）》检定规程，1996年教委又专门发布了JJG（教委）010—1996（（分析型扫描电子显微镜》检定规程。开展扫描电镜的检定或校准工作，需要借助标准物质，其中包括分辨力标准物质、测长标准物质和化学成分标准物质。特别是测长标准物质，
常怀秋贺蒙朴玲钰
关键词：扫描电子显微镜标准物质测长粒度线宽微小尺寸测量
使用透射电镜进行碳纳米管精细结构的研究被引量：2
2013年
应用透射电镜(TEM)及其配置的X射线能量散射谱(EDS)研究了碳纳米管(单壁管和多壁管)的精细结构及元素成分,针对几种有代表性的碳纳米管进行了系统地精细结构分析。结果表明,透射电镜结合X射线能量散射谱在碳纳米管精细结构的表征及成分确认方面具有非常重要、不可替代的作用。
常怀秋朴玲钰
关键词：碳纳米管透射电镜
一种电子显微镜通用的长度测量校准样品的制备方法
本发明提供一种电子显微镜通用的长度测量校准样品的制备方法，该方法包括：基于样品校准需求，确定待加工的基体结构，包括基底和支撑膜，以同时满足扫描电镜和透射电镜的检测要求；绘制周期性的栅格图形，栅格图形的周期是基于待测材料的...
彭开武范伟民常怀秋白露郭延军
一种灯丝定位系统、灯丝定位方法及应用
本发明属于机械工程与自动化领域，具体涉及一种灯丝定位系统、灯丝定位方法及应用。所述系统包括定位模块(J)和检测模块(E)；其中，所述检测模块(E)用于所述定位模块(J)上灯丝位置实时图像的监测。本发明系统原理简单，操作方...
甘雅玲胡西学郭宏博王东亮王昱青何芳菲常怀秋徐晓慧范伟民
纳米技术 扫描电子显微术测量纳米颗粒粒度及形状分布
本文件规定了通过获取和分析纳米颗粒的扫描电子显微镜（SEM）图像，从而确定纳米颗粒粒度及形状分布的方法。 注1：本文件适用的颗粒粒度测量下限取决于SEM性能和测量不确定度的要求，相关信息根据本文件描述的要求进行证明。注...
黄鹭常怀秋刘俊杰白露李伟曹丛李旭高原王贤浩朱晓阳窦晓亮席广成施玉书李力周素红
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