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文献类型

  • 2篇期刊文章
  • 1篇专利

领域

  • 2篇电气工程

主题

  • 1篇电触头
  • 1篇电器
  • 1篇荧光灯
  • 1篇直流
  • 1篇直流高压
  • 1篇质谱
  • 1篇质谱法
  • 1篇频响
  • 1篇气管
  • 1篇污染
  • 1篇脉冲放电
  • 1篇密封继电器
  • 1篇继电器
  • 1篇放电
  • 1篇放电管
  • 1篇高频
  • 1篇高频响应
  • 1篇充气
  • 1篇充气管
  • 1篇冲激

机构

  • 3篇西安交通大学
  • 1篇国营群力无线...

作者

  • 3篇王茹华
  • 2篇黄运添
  • 1篇杨振民
  • 1篇郑德修
  • 1篇王桂芹
  • 1篇黄飚
  • 1篇王金辉
  • 1篇翁明
  • 1篇靳建平

传媒

  • 1篇真空科学与技...
  • 1篇真空电子技术

年份

  • 2篇1994
  • 1篇1993
3 条 记 录,以下是 1-3
排序方式:
高压高速脉冲源
一种高压高速脉冲源,属于应用充气管产生电和光脉冲的装置。一个直立的同轴体外套内封装入高压电阻、片状电极和亚纳秒脉冲放电管,自同轴体外套顶部加以直流高压,在同轴体外套底部高频插头外的负载上即获得亚纳秒至纳秒级宽度的高压高速...
王桂芹翁明王茹华杨振民
文献传递
2D型荧光灯阴极分解激活工艺的研究被引量:1
1994年
本文给出了2D型荧光灯阴极实验研究结果,运用数理统计的直线回归分析法对实验数据进行处理,建立了阴极分解激活时通电电流与相应温度的数学关系模型,为该灯在排气过程中对阴极处理的工艺规范提供了理论依据,并对控制该灯的早期黑化现象具有积极的意义。
黄运添郑德修王茹华王英宗靳建平
关键词:荧光灯
密封继电器电触头污染的实验研究被引量:3
1994年
本文首先采用扫描电子显微镜(SEM)和俄歇电子能谱仪(AES)分析研究了一种密封继电器镀金电触头(基体材料为99.5AgMgNi)的污染,结果表明:触头的冲击磨损和滑动磨损可导致基体金属暴露于表面,使之硫化、碳化和氧化,从而引起触头污染。文中还运用扫描电子显微镜和四极质谱仪(QMS),对经湿热试验后失效的另一种密封继电器镀金电触头(基体材料为AU50Ag20cU30)的污染进行了分析研究,发现密封继电器内水汽等的存在是导致失效的主要因素,触头受到了污染。为研究、诊断污染的来源并采取相应的措施提供了依据。
黄运添黄飚王金辉王茹华董栓礼郑天丕
关键词:密封继电器质谱法
共1页<1>
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