陈桂梅
- 作品数：6 被引量：6H指数：1
- 供职机构：东北微电子研究所更多>>
- 相关领域：电子电信更多>>
- CPU-80C86电路对EMP的敏感性研究
- 介绍了首次对CPU类超大规模集成电路(VLSI)所进行的EMP效应的敏感性模拟试验,并简单描述了电磁脉冲方波注入对80C86CPU电路产生的干扰情况.
- 许仲德高松姚达蔡振陈桂梅袁凯张丽
- 关键词：CPU电磁脉冲超大规模集成电路
- 文献传递
- CMOS电路电离辐射加固设计
- 从电离辐射使CMOS电路失效机理入手，进行CMOS电路的版图加固设计和工艺加固设计，主工对场区和栅氧化进行加固，以提高CMOS电路抗辐射能力，使作者所研制的电路抗辐射能力达到3×10<'3>...
- 陈桂梅董岩
- 关键词：CMOS
- 高稳定Ni-Cr薄膜电阻的研究被引量：6
- 2005年
- 本文主要介绍采用磁控溅射制备Ni-Cr薄膜的方法,并通过光刻、腐蚀,找到最佳的腐蚀条件,得到符合要求的N i-Cr薄膜,并把它应用到具体电路中,取得满意的效果。
- 张丽娟王芳孙承松蔡震陈桂梅
- 关键词：磁控溅射
- CMOS电路电离辐射加因设计
- 从电离辐射CMOS使电路失效机理入手，进行CMOS电路的版图加固设计和工艺加固设计，主要对场区和栅氧化进行加固，以提高CMOS电路抗辐射能力，使该所研制的电路抗辐射能力达到3×10<'3>G...
- 陈桂梅董岩
- 关键词：CMOS电路
- 无损筛选的探讨
- 2002年
- 无损筛选是当前研究常规电路与加固电路具有抗辐射能力的有效方法，而无损筛选通常是指对电路最终产品进行的一种筛选。本文将以L54HC04电路研制为例，通过对其圆片级进行无损筛选试验，提出一个可以大大降低成本的无损筛选新方法-圆片级无损筛选。
- 詹立升杨筱莉陈桂梅
- 关键词：抗辐射加固圆片级半导体集成电路
- PROM器件中Ni-Cr熔丝的设计
- 2006年
- 介绍了应用在PROM器件中的Ni-Cr熔丝电阻的设计.熔丝是决定PROM器件稳定性的关键元件.Ni-Cr薄膜材料有良好的半导体加工特性和温度稳定性.通过热学分析和测试实验,得到相关数据,设计出熔丝形状以及三维尺寸.再根据此集成电路器件的整体版图布局设计出可应用到PROM中的Ni-Cr熔丝.采用磁控溅射方法,通过控制工艺条件得到所需的薄膜厚度,经光刻形成所需图形.通过产品的读取测试实验,取得了良好的效果.
- 孙承松张丽娟陈桂梅袁凯
- 关键词：熔丝可编程只读存储器集成电路
