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吴琼

作品数：9 被引量：23H指数：3
供职机构：电子部更多>>
相关领域：金属学及工艺理学电子电信一般工业技术更多>>

合作作者

文献类型

  • 8篇期刊文章
  • 1篇会议论文

领域

  • 3篇金属学及工艺
  • 3篇理学
  • 2篇电子电信
  • 2篇一般工业技术
  • 1篇医药卫生

主题

  • 4篇光谱
  • 4篇发射光谱
  • 3篇ICP-AE...
  • 2篇等离子体
  • 2篇试剂
  • 2篇稀土
  • 2篇金属杂质
  • 2篇光谱法
  • 2篇高纯
  • 2篇高纯试剂
  • 2篇ICP
  • 2篇ICP-AE...
  • 1篇等离子体发射
  • 1篇等离子体发射...
  • 1篇电路
  • 1篇氧化镱
  • 1篇应力
  • 1篇原子
  • 1篇原子发射
  • 1篇原子发射光谱

机构

  • 9篇电子部

作者

  • 9篇吴琼
  • 8篇张淑珍
  • 8篇王春梅
  • 2篇朱春富
  • 2篇王金钢
  • 1篇褚连青

传媒

  • 3篇光谱学与光谱...
  • 1篇半导体技术
  • 1篇云南大学学报...
  • 1篇分析测试技术...
  • 1篇分析测试仪器...
  • 1篇现代仪器使用...
  • 1篇第一届电子工...

年份

  • 1篇1999
  • 4篇1998
  • 2篇1995
  • 2篇1994
共 9 条 记 录，以下是 1-9
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排序方式：
钨丝中杂质的ICP-AES测定被引量：3
1998年
本文研究了用过氧化氢溶样后采用ICP-AES测定钨丝中杂质的方法。研究了过氧化氢对分析元素谱线强度的影响以及使用内参比元素来消除这种影响。研究还表明由过氧化氢造成的等离子体的不稳定性也得到了改善。
王春梅张淑珍吴琼
关键词：钨ICP-AES钨丝
铸铁中硅、磷、钼等九种元素的ICP-AES测定被引量：2
1998年
采用ＩＣＰ－ＡＥＳ对铸铁中硅、磷、钛、钼、镍、锰、铬、铝和铜杂质的测定进行了研究。考察了铁对待测元素的干扰情况，发现铁对铜有光谱尾翼干扰，干扰系统为１．０×１０－５。采用不同的酸溶解样品时，硅的测定结果有显著的差别。
王春梅张淑珍吴琼
关键词：铸铁硅ICP-AES钼磷
ICP－AES分析氧化镱中非稀土杂质元素的研究
1994年
ＩＣＰ－ＡＥＳ分析氧化镱中非稀土杂质元素的研究王春梅，张淑珍，吴琼（电子部４６所天津，３００１９２）氧化镱是一种很重要的氧化物，同其它稀土元素的氧化物一样，具有很广泛的用途。拉制光纤所用的氧化镱，对其纯度要求很严格，且杂质元素的种类比较多。采用其它方...
王春梅张淑珍吴琼
关键词：氧化镱ICP谱线强度
发射光谱法测定五种高纯试剂中的金属杂质被引量：1
1998年
采用等离子体发射光谱法和交流电弧发射光谱法相互配合测定了５种ＩＣ用高纯试剂过氧化氢、双氧水、硝酸、盐酸和氢氟酸中的１７种杂质元素的含量。采用络合剂和富集技术，研究了降低空白和降低检测限的措施，检测限均达到ｎ×１０－１０。
王春梅吴琼张淑珍朱春富
关键词：双氧水氢氟酸发射光谱
ICP发射光谱测定保偏光纤应力棒中的二氧化二硼被引量：1
1995年
本文提出了用ＩＣＰ发射光谱仪测定保偏光纤应力棒中的二氧化二硼的方法。将应力棒粉碎后，使用ＨＦ在压力溶样器中消解，最后溶液的介质为０．５％氢氟酸，并采用耐腐蚀的样品引进系统进行ＩＣＰ光谱测定。分析程序简单，准确度高，该方法回收率为９９～１０１％，相对标准偏差为１．０４％
张淑珍王春梅吴琼
关键词：ICP-AES三氧化二硼
IC用高纯试剂中金属杂质分析被引量：11
1994年
对ＨＣＩ、ＨＦ和ＨＮＯ；三种ＭＯＳ级高纯试剂中１８种金属杂质用发射光谱进行分析研究，取２０ｍｌ样品，加人适量甘露醇络合硼杂质，在有机玻璃防尘罩内低温挥发基体富集杂质，最后将杂质溶液转移到一对平头电极上，用电弧光谱进行测定。检测限为０．２～４．０（ｎｇ／ｍｌ），加入标准的回收率绝大部分在９０％以上。
朱春富吴琼
关键词：集成电路高纯试剂金属杂质
稀土金属样品中钕、镨和钐的ICP测定
本文采用ICP发射光谱对稀土钕、镨样品中钕、镨和钐三个元素的分析进行了研究。通过采用内参比法补偿非光谱干扰和采用K系数法和逐步逼近法扣除光谱干扰,测定了稀土主含量、次含量和杂质,主含量的变异系数小于0.5%,次含量的变异...
王春梅褚连青张淑珍吴琼王金钢
关键词：稀土钕镨等离子体发射光谱
文献传递
碘钙片中碘的测定被引量：5
1999年
研究了用ＩＣＰ发射光谱测定碘的分析方法。利用过氧化氢和高氯酸将Ｉ－氧化为易挥发的Ｉ２，溶液中碘的检测限可以达到１ｎｇ／ｍＬ。碘钙片样品用水溶解，在不分离沉淀情况下直接测定。试样溶液中底部的沉淀对Ｉ２有一定吸附影响。碘钙片样品中碘的检测限为０．４μｇ／ｇ。
王春梅张淑珍吴琼王金钢
关键词：碘等离子体发射光谱
感耦等离子体原子发射光谱法测定高纯铅中杂质元素的干扰研究被引量：1
1995年
文章介绍了用ICP-AES法测定高纯铅中杂质元素时,Pb对分析元素的干扰情况。Pb对Ge、Mo、P、As、Fe、Bi、Mn有背景影响,对Sb产生谱线干扰。10mg/ml的Pb分别产生相当于0.235μg/ml As、0.750μg/ml、P、0.335μg/ml Mo和3.950μg/ml Sb的信号。
王春梅张淑珍吴琼
关键词：原子发射光谱法
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