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崔莹

作品数：1 被引量：0H指数：0
供职机构：中国电子技术标准化研究所更多>>
发文基金：西安应用材料创新基金更多>>
相关领域：电子电信更多>>

合作作者

文献类型

  • 1篇中文期刊文章

领域

  • 1篇电子电信

主题

  • 1篇低频噪声
  • 1篇噪声系数
  • 1篇结型
  • 1篇结型场效应
  • 1篇结型场效应晶...
  • 1篇晶体管
  • 1篇场效应
  • 1篇场效应晶体管

机构

  • 1篇西安电子科技...
  • 1篇中国电子技术...

作者

  • 1篇包军林
  • 1篇崔莹

传媒

  • 1篇信息技术与标...

年份

  • 1篇2009
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排序方式：
结型场效应晶体管低频噪声测试方法研究
2009年
在深入研究JFET低频噪声特性及产生机理的基础上,提出了一种通过测试宽频带功率谱密度得到其规定频率处等效输入噪声电压功率谱密度和噪声系数的测试方法,并给出了低频噪声测试的偏置电路、测试设备和测试方法。结合3DJ4和3DJ6型JFET器件的测试结果表明,采用本文提出的方法可适用于JFET的低频噪声的测试。
崔莹包军林
关键词：结型场效应晶体管低频噪声噪声系数
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