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林增明
作品数:
15
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供职机构:
北京大学
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相关领域:
文化科学
自动化与计算机技术
电子电信
一般工业技术
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合作作者
黄如
北京大学
王润声
北京大学
邹积彬
北京大学
孙帅
北京大学
黄欣
北京大学
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14篇
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文化科学
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自动化与计算...
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一般工业技术
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直流电源
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散热性
机构
15篇
北京大学
作者
15篇
林增明
14篇
黄如
8篇
邹积彬
8篇
王润声
6篇
黄欣
6篇
孙帅
4篇
李佳
4篇
许晓燕
2篇
诸葛菁
2篇
樊捷闻
2篇
姜子臻
年份
2篇
2014
5篇
2013
6篇
2012
2篇
2011
共
15
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由于维度突变引起的一维到三维边界热阻的测试方法
本发明公开了一种由于维度突变引起的一维到三维边界热阻的测试方法,本发明利用由悬空的纳米线连接的长方体A和长方体B组成的测试结构,实现对材料一维到三维由于维度突变而引起的边界热阻进行测试,对纳米尺度器件散热结构的设计和关键...
黄如
林增明
王润声
邹积彬
李佳
许晓燕
文献传递
一种场效应晶体管自加热效应的温度测量方法
本发明公开了一种场效应晶体管自加热效应的温度的测量方法。本发明的测量方法使用亚阈电流作为温度计,通过编写栅端、源端和漏端的偏压波形,使器件电流在亚阈电流I<Sub>sub</Sub>和开态电流I<Sub>on</Sub>...
黄如
黄欣
林增明
诸葛菁
樊捷闻
姜子臻
一种一维到三维边界热阻的测试结构和方法
本发明公开了一种一维到三维边界热阻测试方法,该方法利用一种简单的测试结构,该测试结构包括长方体A、长方体B和纳米线三部分,长方体A和长方体B之间由悬空的纳米线相连。通过两组测试结构1和测试结构2的纳米线的整体热阻R<Su...
黄如
林增明
王润声
邹积彬
李佳
许晓燕
一种纳米尺度器件散热特性的测试结构和测试方法
本发明公布了一种纳米尺度器件散热特性的测试结构和测试方法。结构包括源(1)、漏(2)、栅(3)三部分,源(1)和漏(2)之间有一根悬空纳米线(5);栅(3)和漏(2)之间有绝缘层(6);该结构采用围栅结构,栅(3)的一端...
黄如
林增明
王润声
邹积彬
孙帅
文献传递
一种测试方形纳米线边界热阻随尺度变化的方法
本发明公布了一种测试方形纳米线边界热阻随尺度变化的方法。所述方法包括如下步骤:1、制作一组测试结构,该结构包含三个测试样品(Y1、Y2、Y3);2、和步骤1同样的方法按照样品宽度呈等差数列制作多组测试结构;3、测出各组测...
林增明
黄如
黄欣
文献传递
一种利用直流源测试不同材料间边界热阻的方法
本发明公布了一种利用直流源测试不同材料间边界热阻的方法,具体包括:构建一种特殊的测试结构;通过直流方法测出测试结构中样品2(Y2)和样品1(Y1)的整体热阻之差;计算材料A和材料B之间的边界热阻;改变输入直流电源的输入功...
黄如
林增明
黄欣
孙帅
文献传递
新型围栅硅纳米线器件热效应的研究
随着集成电路的不断发展,对集成电路器件的设计提出了更高的要求。一方面,不断减小的器件尺寸使得传统器件结构发生改变,出现了SOI器件、FinFET器件和纳米线器件,这些器件结构中的薄层材料、纳米线结构等,会使器件沟道的散热...
林增明
关键词:
自加热效应
一种一维到三维边界热阻的测试结构和方法
本发明公开了一种一维到三维边界热阻测试方法,该方法利用一种简单的测试结构,该测试结构包括长方体A、长方体B和纳米线三部分,长方体A和长方体B之间由悬空的纳米线相连。通过两组测试结构1和测试结构2的纳米线的整体热阻R<Su...
黄如
林增明
王润声
邹积彬
李佳
许晓燕
文献传递
由于维度突变引起的一维到三维边界热阻的测试方法
本发明公开了一种由于维度突变引起的一维到三维边界热阻的测试方法,本发明利用由悬空的纳米线连接的长方体A和长方体B组成的测试结构,实现对材料一维到三维由于维度突变而引起的边界热阻进行测试,对纳米尺度器件散热结构的设计和关键...
黄如
林增明
王润声
邹积彬
李佳
许晓燕
一种纳米尺度器件散热特性的测试结构和测试方法
本发明公布了一种纳米尺度器件散热特性的测试结构和测试方法。结构包括源(1)、漏(2)、栅(3)三部分,源(1)和漏(2)之间有一根悬空纳米线(5);栅(3)和漏(2)之间有绝缘层(6);该结构采用围栅结构,栅(3)的一端...
黄如
林增明
王润声
邹积彬
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