宋霞
- 作品数:19 被引量:31H指数:4
- 供职机构:洛阳理工学院环境工程与化学系更多>>
- 发文基金:国家自然科学基金更多>>
- 相关领域:化学工程理学金属学及工艺文化科学更多>>
- X荧光光谱法分析硅质-半硅质耐火材料的主次元素含量被引量:3
- 2010年
- 介绍了玻璃熔片XRF测定硅质-半硅质耐火材料中SiO2、Al2O3、Fe2O3、TiO2、CaO、MgO、K2O、Na2O等常见组分的定量分析。确定了该分析方法所适用的测定范围,并对标样的制备、试验条件的选择和分析结果做出了详细描述。
- 宋霞郭红丽胡坚
- 关键词:X射线荧光光谱法
- 电感耦合等离子体发射光谱法测定聚氯乙烯塑料中的重金属元素被引量:2
- 2007年
- 电感耦合全谱直读等离子体发射光谱直接测定聚氯乙烯塑料中4种重金属元素,采用离峰背景扣除光谱干扰,测试精密度为0.46%—2.07%,测定元素的回收率为96.2%—102.5%。具有检出限低、灵敏度高等特点。
- 宋霞孙雪萍李文静
- 关键词:电感耦合等离子体-原子发射光谱法聚氯乙烯塑料重金属元素
- X荧光光谱法分析含铬耐火材料
- 文章介绍了玻璃熔片XRF(X射线荧光光谱法)测定含铬耐火材料制品及原料中SiO2、Al2O3、Fe2O3.TiO2、CaO、MgO、Cr2O3等需要控制组分的定量分析方法。确定了该分析方法所适用的测定范围,并对标样的制备...
- 宋霞徐伏秋
- 关键词:X射线荧光光谱法
- 文献传递
- 低稀释比玻璃融片法分析氧化铝中微量成分被引量:5
- 2006年
- 玻璃熔片法可以有效消除氧化物粉末样品所固有的粒度效应,矿物效应等对分析的影响,但通常的玻璃熔片法对样品进行了稀释,较大程度影响微量成分的测定。本文采用低稀释比的熔片方法,减小稀释带来的影响。针对氧化铝较难熔片的问题,选择出适当的混合溶剂来解决这一难题.在此基础上,建立了可以同时准确分析主成分和微量成分的方法。
- 宋霞胡坚
- 关键词:氧化铝粉
- 高铝质耐火材料中SiO_2的解聚-钼蓝光度法测定被引量:1
- 2004年
- 对SiO2 含量低于 30 %的高铝质耐火材料中SiO2 的解聚 -钼蓝光度测定方法进行了研究。结果表明 :氟化钾是最佳的解聚剂 ,氟化钾 (2 0g·L- 1 )和硼酸 (2 0g·L- 1 )的用量分别为 5 .0mL和 7.5mL。本方法准确可靠 ,重复性好 ,可以用于SiO2 含量低于 30 %的高铝质耐火材料中SiO2 的测定 ,结果令人满意。
- 郭红丽宋霞杜军卫刘秋华
- 关键词:高铝质耐火材料SIO2含量氧化硅氟化钾化学分析
- 隧道窑烧成带用后镁铬残砖分析
- 2005年
- 宋霞王芙云刘会林李勇
- 关键词:烧成带铬耐火材料高温隧道窑窑衬
- X荧光光谱分析法测定含铬不定形耐火材料被引量:4
- 2011年
- 含铬耐火材料中的SiO2,Al2O3,Fe2O3,TiO2,CaO,MgO和Cr2O3等直接影响着产品质量,属于需控制成分。文章用市售耐火材料标准品和基准试剂配制出适当含量范围且有一定梯度的系列标准样,以四硼酸锂-偏硼酸锂(质量比67∶33)作熔剂、熔样过程中添加碘化铵固体脱模剂的方法制备样品玻璃熔片,通过X射线荧光光谱法(XRF)测定元素的荧光强度,并以理论α系数基体校正法消除吸收与增强效应,从而得到测量上述组分的定量校正曲线。该方法应用于耐火材料标准品的测定,所得结果与标准值吻合。应用于实际样品的测定并和化学法比较,结果准确,精密度好,操作简单、快速,具有良好的实用性。
- 宋霞张少文张军
- 关键词:X射线荧光光谱法
- EDTA法测定锆英石中氧化锆(铪)结果不确定度的评定被引量:1
- 2009年
- 对EDTA滴定法测定锆英石中氧化锆(铪)含量的不确定度来源进行了分析,对测定过程中的主要不确定度分量进行了合理的评定,包括称量引入的不确定度,ZnO纯度引入的不确定度,相关元素摩尔质量引入的不确定度,体积引入的不确定度以及测量重复性引入的不确定度。测量结果的扩展不确定度是以合成标准不确定度乘以95%置信概率下的扩展因子2得到的。
- 郭红丽杜军卫宋霞彭俊英
- 关键词:EDTA滴定法不确定度评定锆英石
- X射线荧光光谱仪压片法快速分析硅质耐火材料
- 采用X射线荧光光谱仪快速测量硅质耐火材料(包括原料硅石及其制品)中SiO2、Al2O3、Fe2O3、TiO2、CaO、MgO、K2O、Na2O共8种化学组成含量的全分析。利用粉末压片法来制取试样,利用标样系列制作工作曲线...
- 王芙云宋霞任国涛
- 关键词:X射线荧光光谱仪硅质耐火材料化学组成
- 文献传递
- 低稀释比玻璃熔片X射线荧光光谱法分析高纯硅石中主次成分被引量:4
- 2011年
- 用市售硅石、硅砖国家标准物质和SiO2基准试剂配制出一系列适当含量范围的标准样品,采用低稀释比玻璃熔片法,研究了高纯硅石中主次成分的X射线荧光光谱分析方法,并且对熔剂种类、稀释比、熔样条件进行了系统研究。国家硅石标准物质的测定值与标准值相一致,应用于实际样品的测定并和化学法比较,分析结果也基本一致。该方法操作简单、快速,结果准确,精密度好,具有良好的实用性。
- 宋霞杨双花翟智卫
- 关键词:X射线荧光光谱法