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陈楚

作品数:3 被引量:8H指数:2
供职机构:北京大学更多>>
相关领域:电子电信交通运输工程机械工程更多>>

文献类型

  • 2篇期刊文章
  • 1篇学位论文

领域

  • 2篇电子电信
  • 1篇机械工程
  • 1篇交通运输工程

主题

  • 2篇芯片
  • 2篇可靠性
  • 1篇电磁
  • 1篇电磁兼容
  • 1篇电路
  • 1篇电路芯片
  • 1篇汽车
  • 1篇汽车电子
  • 1篇芯片设计
  • 1篇静电损伤
  • 1篇可靠性研究
  • 1篇老化过程
  • 1篇集成电路
  • 1篇功率集成
  • 1篇功率集成电路
  • 1篇EMC
  • 1篇EMC测试
  • 1篇ESD
  • 1篇LED

机构

  • 3篇北京大学

作者

  • 3篇陈楚
  • 2篇严伟
  • 1篇袁晨
  • 1篇熊胜江
  • 1篇代文文

传媒

  • 1篇安全与电磁兼...
  • 1篇半导体光电

年份

  • 1篇2013
  • 1篇2012
  • 1篇2011
3 条 记 录,以下是 1-3
排序方式:
汽车电子芯片EMC测试标准研究被引量:4
2012年
在汽车电子产品所采用的电磁兼容测试标准的基础上,以功率驱动芯片为例,提出了汽车电子芯片级电磁兼容测试的必要性,并重点介绍了集成电路电磁发射测试标准IEC61967和集成电路电磁抗扰度测试标准IEC62132。
严伟熊胜江陈楚
关键词:汽车电子芯片EMC
LED静电损伤在老化过程中的变化趋势被引量:4
2011年
针对发光二极管(LED)的可靠性问题,将抗静电测试与高温老化实验结合,将蓝绿色发光材料制成的二极管分组,测试其经过老化过程后的光色参数变化。实验数据表明,蓝绿色LED裸片与封装样品老化过程中的衰减趋势有一定差异,老化程度与封装材料和发光材料的搭配方式有关。对于未被静电损伤的芯片,经过老化过程后,并没有出现静电损伤被放大导致功能性失效的现象,静电对其参数衰减无明显影响,与单一的老化实验趋势相似。对于经过静电击打后出现异常,无法正常发光的芯片,高温老化实验产生了使其迅速损坏和复原的情况。
袁晨代文文陈楚严伟
关键词:LEDESD可靠性
功率集成电路芯片与系统电磁干扰可靠性研究
步入信息化时代,各种电子电气系统在同一个电磁环境下工作,为保证其同时正常工作和用户安全,提出了电磁兼容(Electromagnetic Compatibility, EMC)的概念。  系统级的电磁兼容领域已在近几十年来...
陈楚
关键词:功率集成电路芯片设计可靠性电磁兼容
共1页<1>
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