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银锐明

作品数:5 被引量:38H指数:2
供职机构:国防科学技术大学航天与材料工程学院更多>>
发文基金:国家高技术研究发展计划更多>>
相关领域:电气工程金属学及工艺一般工业技术冶金工程更多>>

文献类型

  • 2篇期刊文章
  • 1篇学位论文
  • 1篇会议论文

领域

  • 2篇金属学及工艺
  • 2篇电气工程
  • 1篇冶金工程
  • 1篇一般工业技术

主题

  • 3篇电阻
  • 3篇电阻温度系数
  • 3篇厚膜
  • 3篇厚膜电阻
  • 2篇电阻浆料
  • 2篇方阻
  • 1篇热稳定
  • 1篇热稳定性
  • 1篇微晶
  • 1篇微晶玻璃
  • 1篇结晶度
  • 1篇XO
  • 1篇X射线衍射法
  • 1篇AG
  • 1篇BAPBO3
  • 1篇BI
  • 1篇X

机构

  • 4篇国防科学技术...

作者

  • 4篇银锐明
  • 3篇堵永国
  • 3篇张为军
  • 2篇芦玉峰
  • 1篇肖加余
  • 1篇郑晓慧
  • 1篇唐珍兰
  • 1篇张传禹

传媒

  • 1篇硅酸盐学报
  • 1篇材料科学与工...

年份

  • 1篇2006
  • 3篇2005
5 条 记 录,以下是 1-4
排序方式:
一种新型BaPbO3厚膜电阻的研究
对具有金属导电性能的BaPbO3的合成进行阐述,确定合成最低电阻率的摩尔配比。以方阻和电阻温度系数为特征参数对BaPbO3厚膜电阻性能进行分析。通过掺银的方法改善厚膜电阻电阻温度系数负值偏大的状况。并提及一个可能的导电模...
银锐明堵永国张为军唐珍兰郑晓慧
关键词:厚膜电阻方阻电阻温度系数
文献传递
XRD法测定微晶玻璃晶相含量被引量:33
2005年
利用X射线衍射技术,提出了一种无需纯晶相作标样,仅根据玻璃相散射峰的强度数据确定微晶玻璃结晶度,然后利用标准卡片上的“参比强度”值计算各晶相含量的方法。采用该方法研究了不同烧结工艺制得的2组BaO Al2O3Si O2系微晶玻璃中各晶相的含量。该方法与Rietveld法测得的结晶度的偏差小于3.2%,测得的各晶相含量的偏差小于2.6%。利用所获得的各晶相质量分数,根据加和法则计算得到微晶玻璃样品的密度,它们与利用Archi medes排水法测得的密度值的相对偏差小于1.8%。提出的方法简便易行,准确性满足材料研究的要求。
芦玉峰堵永国肖加余张传禹张为军银锐明
关键词:微晶玻璃结晶度X射线衍射法
新型BaPb/_(1-x)Bi/_xO/_3厚膜电阻浆料的研究
在追踪导电陶瓷材料发展的基础上,本文选择导电性能较好的BaPbO/_3材料作为主要研究对象,致力于贱金属化合物替代贵金属及其氧化物作为厚膜电阻功能相的研究。本文提出利用Bi/_2O/_3与BaPbO/_3在高温固相反应原...
银锐明
关键词:电阻浆料电阻温度系数
文献传递
BaPbO_3/Ag复合体系大功率厚膜电阻浆料的研究被引量:4
2006年
提出以BaPbO3/Ag复合体系作为功能相制备低成本大功率厚膜电阻浆料的思想,研究Ag含量、峰值烧结温度对厚膜电阻电性能和热稳定性的影响,并从导电机理方面对实验结果进行了分析讨论。
银锐明堵永国张为军芦玉峰
关键词:厚膜电阻方阻电阻温度系数热稳定性
共1页<1>
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