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李嘉
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中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
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相关领域:
自动化与计算机技术
电子电信
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合作作者
余达
中国科学院长春光学精密机械与物...
刘金国
中国科学院长春光学精密机械与物...
孔德柱
中国科学院长春光学精密机械与物...
姜肖楠
中国科学院长春光学精密机械与物...
黄斌
中国科学院长春光学精密机械与物...
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基于LDO的FPGA加载配置问题检查方法
基于LDO的FPGA加载配置问题检查方法,涉及一种基于LDO的FPGA加载配置问题检查方法,解决现有成像应用中的潜通和DCDC输出电压上升阶段启动配置造成的FPGA配置加载失败的问题,包括JTAG连接不通问题排查;fla...
余达
刘金国
韩诚山
姜肖楠
孔德柱
柴方茂
李嘉
文献传递
一种低压参考源的实现系统
一种低压参考源的实现系统,涉及一种低压参考源的实现系统,解决现有低于1.2V的低压参考电压源种类少且内阻高,连接开关容性负载时在参考电压上易叠加干扰毛刺,导致图像传感器输出的图像中混杂有条纹干扰等问题。包括基准源及电阻分...
余达
刘金国
孔德柱
李广泽
赵莹
景岩
李嘉
一种TDICMOS探测器的非均匀校正方法
一种TDICMOS探测器的非均匀校正方法,涉及TDICMOS探测器成像技术领域,解决现有探测器响应的非均匀校正方法存在受暗电流影响,进而出现暗场的偏差的问题,校正系统包括TDICMOS探测器、成像控制器、积分球以及图像数...
余达
刘金国
周怀得
姜肖楠
杨亮
黄斌
李嘉
文献传递
TDICMOS的滚动行周期的实现和检测方法
TDICMOS的滚动行周期的实现和检测方法,涉及TDICMOS成像技术领域,解决现有多谱段TDICMOS探测器成像时,在滚动行周期执行过程中,由于本地计时的偏差或者发送间隔的偏差,从而导致正在执行的滚动行周期被打断等问题...
余达
薛栋林
薛旭成
石俊霞
宁永慧
朱立禄
李嘉
文献传递
TDICMOS的滚动行周期的实现和检测方法
TDICMOS的滚动行周期的实现和检测方法,涉及TDICMOS成像技术领域,解决现有多谱段TDICMOS探测器成像时,在滚动行周期执行过程中,由于本地计时的偏差或者发送间隔的偏差,从而导致正在执行的滚动行周期被打断等问题...
余达
薛栋林
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石俊霞
宁永慧
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李嘉
双面阵推扫立体测绘成像方法及成像系统
双面阵推扫立体测绘成像方法及成像系统,涉及一种成像系统,解决现有采用三线阵推扫成像,每行图像都需要对应的姿态参数,导致姿态测量速率低以及精度大大降低的问题,本发明所述的双面阵推扫立体测绘成像时每帧图像都满足中心投影规律,...
余达
刘金国
郭永飞
徐东
孔德柱
李嘉
张琨
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基于LDO的FPGA加载配置问题检查方法
基于LDO的FPGA加载配置问题检查方法,涉及一种基于LDO的FPGA加载配置问题检查方法,解决现有成像应用中的潜通和DCDC输出电压上升阶段启动配置造成的FPGA配置加载失败的问题,包括JTAG连接不通问题排查;fla...
余达
刘金国
韩诚山
姜肖楠
孔德柱
柴方茂
李嘉
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一种低压参考源的实现系统
一种低压参考源的实现系统,涉及一种低压参考源的实现系统,解决现有低于1.2V的低压参考电压源种类少且内阻高,连接开关容性负载时在参考电压上易叠加干扰毛刺,导致图像传感器输出的图像中混杂有条纹干扰等问题。包括基准源及电阻分...
余达
刘金国
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李广泽
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一种TDICMOS探测器的非均匀校正方法
一种TDICMOS探测器的非均匀校正方法,涉及TDICMOS探测器成像技术领域,解决现有探测器响应的非均匀校正方法存在受暗电流影响,进而出现暗场的偏差的问题,校正系统包括TDICMOS探测器、成像控制器、积分球以及图像数...
余达
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双面阵推扫立体测绘成像方法及成像系统
双面阵推扫立体测绘成像方法及成像系统,涉及一种成像系统,解决现有采用三线阵推扫成像,每行图像都需要对应的姿态参数,导致姿态测量速率低以及精度大大降低的问题,本发明所述的双面阵推扫立体测绘成像时每帧图像都满足中心投影规律,...
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