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文献类型

  • 10篇中文专利

领域

  • 2篇自动化与计算...
  • 1篇电子电信

主题

  • 6篇成像
  • 4篇电容
  • 3篇周期
  • 2篇电能
  • 2篇容性负载
  • 2篇时间码
  • 2篇探测器
  • 2篇图像
  • 2篇图像数据
  • 2篇排查
  • 2篇状态机
  • 2篇像素
  • 2篇像移
  • 2篇像移补偿
  • 2篇滤波电容
  • 2篇内核
  • 2篇基准源
  • 2篇供电
  • 2篇供电方式
  • 2篇供电能力

机构

  • 10篇中国科学院长...

作者

  • 10篇余达
  • 10篇李嘉
  • 8篇刘金国
  • 6篇孔德柱
  • 4篇姜肖楠
  • 2篇宁永慧
  • 2篇薛栋林
  • 2篇周怀得
  • 2篇杨亮
  • 2篇韩诚山
  • 2篇赵莹
  • 2篇薛旭成
  • 2篇郭永飞
  • 2篇李广泽
  • 2篇朱立禄
  • 2篇柴方茂
  • 2篇景岩
  • 2篇徐东
  • 2篇张琨
  • 2篇石俊霞

年份

  • 1篇2023
  • 1篇2022
  • 2篇2021
  • 1篇2020
  • 1篇2019
  • 1篇2017
  • 2篇2016
  • 1篇2015
10 条 记 录,以下是 1-10
排序方式:
基于LDO的FPGA加载配置问题检查方法
基于LDO的FPGA加载配置问题检查方法,涉及一种基于LDO的FPGA加载配置问题检查方法,解决现有成像应用中的潜通和DCDC输出电压上升阶段启动配置造成的FPGA配置加载失败的问题,包括JTAG连接不通问题排查;fla...
余达刘金国韩诚山姜肖楠孔德柱柴方茂李嘉
文献传递
一种低压参考源的实现系统
一种低压参考源的实现系统,涉及一种低压参考源的实现系统,解决现有低于1.2V的低压参考电压源种类少且内阻高,连接开关容性负载时在参考电压上易叠加干扰毛刺,导致图像传感器输出的图像中混杂有条纹干扰等问题。包括基准源及电阻分...
余达刘金国孔德柱李广泽赵莹景岩李嘉
一种TDICMOS探测器的非均匀校正方法
一种TDICMOS探测器的非均匀校正方法,涉及TDICMOS探测器成像技术领域,解决现有探测器响应的非均匀校正方法存在受暗电流影响,进而出现暗场的偏差的问题,校正系统包括TDICMOS探测器、成像控制器、积分球以及图像数...
余达刘金国周怀得姜肖楠杨亮黄斌李嘉
文献传递
TDICMOS的滚动行周期的实现和检测方法
TDICMOS的滚动行周期的实现和检测方法,涉及TDICMOS成像技术领域,解决现有多谱段TDICMOS探测器成像时,在滚动行周期执行过程中,由于本地计时的偏差或者发送间隔的偏差,从而导致正在执行的滚动行周期被打断等问题...
余达薛栋林薛旭成石俊霞宁永慧朱立禄李嘉
文献传递
TDICMOS的滚动行周期的实现和检测方法
TDICMOS的滚动行周期的实现和检测方法,涉及TDICMOS成像技术领域,解决现有多谱段TDICMOS探测器成像时,在滚动行周期执行过程中,由于本地计时的偏差或者发送间隔的偏差,从而导致正在执行的滚动行周期被打断等问题...
余达薛栋林薛旭成石俊霞宁永慧朱立禄李嘉
双面阵推扫立体测绘成像方法及成像系统
双面阵推扫立体测绘成像方法及成像系统,涉及一种成像系统,解决现有采用三线阵推扫成像,每行图像都需要对应的姿态参数,导致姿态测量速率低以及精度大大降低的问题,本发明所述的双面阵推扫立体测绘成像时每帧图像都满足中心投影规律,...
余达刘金国郭永飞徐东孔德柱李嘉张琨
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基于LDO的FPGA加载配置问题检查方法
基于LDO的FPGA加载配置问题检查方法,涉及一种基于LDO的FPGA加载配置问题检查方法,解决现有成像应用中的潜通和DCDC输出电压上升阶段启动配置造成的FPGA配置加载失败的问题,包括JTAG连接不通问题排查;fla...
余达刘金国韩诚山姜肖楠孔德柱柴方茂李嘉
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一种低压参考源的实现系统
一种低压参考源的实现系统,涉及一种低压参考源的实现系统,解决现有低于1.2V的低压参考电压源种类少且内阻高,连接开关容性负载时在参考电压上易叠加干扰毛刺,导致图像传感器输出的图像中混杂有条纹干扰等问题。包括基准源及电阻分...
余达刘金国孔德柱李广泽赵莹景岩李嘉
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一种TDICMOS探测器的非均匀校正方法
一种TDICMOS探测器的非均匀校正方法,涉及TDICMOS探测器成像技术领域,解决现有探测器响应的非均匀校正方法存在受暗电流影响,进而出现暗场的偏差的问题,校正系统包括TDICMOS探测器、成像控制器、积分球以及图像数...
余达刘金国周怀得姜肖楠杨亮黄斌李嘉
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双面阵推扫立体测绘成像方法及成像系统
双面阵推扫立体测绘成像方法及成像系统,涉及一种成像系统,解决现有采用三线阵推扫成像,每行图像都需要对应的姿态参数,导致姿态测量速率低以及精度大大降低的问题,本发明所述的双面阵推扫立体测绘成像时每帧图像都满足中心投影规律,...
余达刘金国郭永飞徐东孔德柱李嘉张琨
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