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文献类型

  • 1篇中文专利

主题

  • 1篇引脚
  • 1篇三极管
  • 1篇通信接口
  • 1篇接口
  • 1篇非易失性
  • 1篇非易失性存储
  • 1篇非易失性存储...
  • 1篇测试装置
  • 1篇存储器

机构

  • 1篇广州市地下铁...

作者

  • 1篇李元盛
  • 1篇陈智华
  • 1篇李天明
  • 1篇李晓威
  • 1篇陈威
  • 1篇金文涛

年份

  • 1篇2014
1 条 记 录,以下是 1-1
排序方式:
一种非易失性存储器测试装置及其测试方法
本发明提供了一种非易失性存储器测试装置及其测试方法,所述测试装置包括通信接口、单片机、地址锁存器,单片机包括第一数据引脚和第二数据引脚,地址锁存器包括输入端和输出端,地址锁存器的输入端与第一数据引脚连接,地址锁存器的输出...
金文涛夏耀天陈智华林惠汉游高祥李天明陈威李晓威崔佐明李元盛
文献传递
共1页<1>
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