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张国辉

作品数：1 被引量：4H指数：1
供职机构：中国科学院更多>>
发文基金：国家科技重大专项更多>>
相关领域：电子电信更多>>

合作作者

文献类型

  • 1篇中文期刊文章

领域

  • 1篇电子电信

主题

  • 1篇封装
  • 1篇封装测试
  • 1篇半导体
  • 1篇半导体封装
  • 1篇半导体封装测...

机构

  • 1篇中国科学院
  • 1篇中国科学院大...
  • 1篇江苏物联网研...
  • 1篇无锡中科泛在...

作者

  • 1篇史海波
  • 1篇刘昶
  • 1篇张国辉
  • 1篇姚丽丽

传媒

  • 1篇电子器件

年份

  • 1篇2015
共 1 条 记 录，以下是 1-1
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排序方式：
半导体封装测试生产线瓶颈检测的一种方法被引量：4
2015年
所有的半导体生产系统都存在生产瓶颈,只有提高瓶颈单元的生产能力才能提高整个生产系统的生产能力。由于以往的瓶颈检测方法过于单一,常常难以适用于比较复杂的半导体生产系统,为此通过对前人的工作的努力研究,建立了半导体封装测试制造系统的生产模型,克服了以往单个瓶颈识别指标确定瓶颈的弊端,进而得出生产系统中一种半导体封装测试生产线瓶颈检测的方法。并通过实例证明了该方法的有效性和鲁棒性。
张国辉刘昶姚丽丽史海波
关键词：半导体封装测试
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