靳涛
- 作品数：22 被引量：16H指数：2
- 供职机构：中国科学院新疆理化技术研究所更多>>
- 发文基金：国家自然科学基金博士科研启动基金更多>>
- 相关领域：电子电信理学核科学技术医药卫生更多>>
- 强脉冲X射线辐照Si-SiO_2界面对C-V和I-V特性曲线的影响被引量：1
- 2002年
- 利用强脉冲 X射线对 Si-Si O2 界面进行了辐照 ,测量了 C-V曲线和 I-V曲线。实验发现 ,经过强脉冲 X射线对 Si-Si O2 界面进行的辐照 ,使 C-V曲线产生了正向漂移 ,这一点与低剂量率辐射结果不同 ;辐射后 ,感生 I-V曲线产生畸变 ;特别地 ,从 I-V曲线上还反映出强脉冲 X射线辐照的总剂量效应造成电特性参数明显退化 ,最后甚至失效。讨论了强脉冲 X射线辐照对 Si-Si O2 界面产生损伤的机理 。
- 杨志安靳涛杨祖慎姚育娟罗尹虹戴慧莹
- 关键词：MOS器件
- 同步辐射X射线吸收边辐照技术被引量：1
- 1995年
- 介绍了同步辐射Ｘ射线能量吸收边辐照技术原理和部分应用研究。简要阐述了单能软ｘ射线辐射剂量参数的测量和计算方法。
- 靳涛
- 关键词：X射线辐照CT
- 经软X射线辐照的InP的表面损伤态
- 1999年
- 采用Ｘ光激发光电子能谱（ＸＰＳ）对经同步辐射软Ｘ光辐照的ＩｎＰ表面进行了分析。实验结果表明：ＩｎＰ表面辐照损伤与辐照Ｘ光的能量及剂量有关，尤其是具有近Ｐ原子Ｋ壳层共振吸收能量的软Ｘ光辐照与其它Ｘ射线辐照相比，其结果有所不同。文中就实验结果的机制进行了初步探讨。
- 刘昶时靳涛武光明杨祖慎
- 关键词：软X射线辐照损伤
- XW6012A型临床外推电离室剂量仪的研制
- 1992年
- 研制了一台供放疗临床使用的便携式外推电离室剂量仪。外推电离室室壁材料与组织等效,收集极名义直径为20 mm,极间距离可变范围为0.2—6 mm。配备有能控制外推电离室的智能化数字化剂量仪表,自动或手动完成全部剂量测定工作.并具有故障自诊以及误差自校等功能。适用于测量能量为0.5—20MeV、剂量率为0.02—40Gy/min的电子束、X和γ射线在组织等效材料表面和深部的吸收剂量。测量结果总不确定度小于2.7％。
- 靳涛王密吴进争郭旗冯德友欧雪林万平才
- 关键词：剂量仪外推电离室
- 电子束在MOS结构中的能量沉积与辐照效应被引量：3
- 1994年
- 根据电子输运的“双群理论”计算出电子在Ｓｉ－ＳｉＯ２材料中的能量沉积．用与硅等效的外推电离室测定了１．０ＭｅＶ和１．５ＭｅＶ的电子束在ＭＯＳ电容芯片中的吸收剂量．用Ｘ光电子谱（ＸＰＳ）、俄歇谱（ＡＥＳ）、深能级瞬态谱（ＤＬＴＳ）和Ｃ—Ｖ方法测量分析了ＭＯＳ电容Ｓｉ－ＳｉＯ２材料化学结构、界面态密度和Ｃ—Ｖ曲线在辐照前后的变化．根据理论和实验结果，从辐射剂量学的角度分析讨论了电子能量沉积、电离缺陷和辐射效应间的关系．并提出一个关于ＭＯＳ结构电离辐射损伤机理的初步解释。
- 靳涛马忠权郭旗
- 关键词：电子束MOS系统
- 同步辐射单色X光照射量现场测量系统
- 1999年
- 为同步辐射单色Ｘ光照射量测量研制出自由空气电离室。设计了现场照射量测量的计算机系统。重点讨论了软Ｘ射线照射量的测量原理和计算方法。
- 靳涛吐而迪刘漪
- 电子束和β射线两用外推电离室
- 1992年
- 靳涛
- 关键词：电离室电子束Β射线
- MOS结构电子、质子辐照感生缺陷的EPR测量被引量：1
- 2002年
- 利用电子顺磁共振 (EPR)技术测量了 (1 0 0 )晶向硅衬底材料上制作的 MOS电容在电子和质子辐照前后缺陷电子顺磁 (EPR)吸收谱 ,对比了电子和质子辐照前后缺陷顺磁中心浓度的变化 .结果表明 ,辐照前后带有单个未成对自旋电子的 Pb0 中心浓度未发生明显变化 ,电子与质子辐照均产生了新的中性体缺陷 ,电子辐照后观察到Pb1 中心的出现并随辐照注量增大 ,质子辐照后则未观察这一现象 .当质子辐照到 1 0 1 4p/ cm2时 ,引起部分体缺陷顺磁中心的消失 .电子辐照后 ,产生的体缺陷顺磁中心浓度则随辐照注量增大 ,表明电子与质子辐照作用机制的差异 ,质子辐照中位移效应和 H+的存在最可能是造成晶格缺陷消失和顺磁吸收消失的主要原因 .
- 范隆靳涛杨祖慎杨志安
- 关键词：MOS结构ERP质子
- 软X射线作用下的InP表面微结构
- 1997年
- 同步辐射软X射线（白光）对InP表现进行了辐照。并对样品的表面电子结构作了UPS和XPS分析。结果显示，样品表面电子态变化明显，P3a峰化学位移大于In4d峰。与In非键合的P2p峰面积辐照后显著增加。说明软X射线对InP表现F原子的电离损伤要大于In原子。
- 靳涛奎热西等
- 关键词：软X射线INP磷化铟半导体
- 同步辐射低能X射线的照射量测量与剂量计算
- 1998年
- 用自制自由空气电离室，在能量为２～１２ｋｅＶ同步辐射光束线现场测量了单能Ｘ射线的电离量，依据Ｘ射线在空气中的传输和衰减特性及能量转移系数，计算了电离室入射口的照射剂量值。进而求出在空气中的相应比释动能和光子通量。讨论了软Ｘ射线照射量随能量的分布特性及混合能量Ｘ射线（白光）的照射量测量方法。
- 靳涛戴慧莹
- 关键词：低能X射线
