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杨常青
作品数:
1
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供职机构:
北京自动测试技术研究所
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相关领域:
自动化与计算机技术
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合作作者
邹翔
北京自动测试技术研究所
李素君
北京自动测试技术研究所
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1篇
2009
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基于M32C87A单片机的智能测试系统控制方法研究
2009年
M32C87A与其它单片机相比,具有速度快、功耗低、处理能力强、内置丰富外围电路的优势;针对目前半导体测试存在的问题。本文旨在研究M32C87A及相关理论,研究以其为核心的测试系统以提高半导体测试的速度、效率。
邹翔
李素君
杨常青
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单片机
智能测试系统
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