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张世敏

作品数:9 被引量:3H指数:1
供职机构:电子工业部更多>>
相关领域:理学电子电信一般工业技术电气工程更多>>

文献类型

  • 7篇期刊文章
  • 1篇会议论文

领域

  • 3篇理学
  • 2篇电子电信
  • 1篇金属学及工艺
  • 1篇电气工程
  • 1篇一般工业技术

主题

  • 5篇衍射
  • 3篇晶体
  • 2篇射线
  • 2篇射线衍射
  • 2篇碲镉汞
  • 2篇半导体
  • 2篇X射线
  • 2篇X射线衍射
  • 1篇单晶
  • 1篇单晶生长
  • 1篇导体
  • 1篇电解电容器
  • 1篇电解电容器用
  • 1篇电容
  • 1篇电容器
  • 1篇电容器用
  • 1篇多晶
  • 1篇衍射积分
  • 1篇衍射仪
  • 1篇氧化物

机构

  • 4篇电子工业部
  • 3篇机电部
  • 1篇天津理工学院
  • 1篇中国电子科技...

作者

  • 8篇张世敏
  • 7篇郝建民
  • 2篇陈济舟
  • 1篇王利杰
  • 1篇褚连青

传媒

  • 2篇物理测试
  • 1篇物理学报
  • 1篇低温与超导
  • 1篇Chines...
  • 1篇半导体杂志
  • 1篇红外与激光技...
  • 1篇中国有色金属...

年份

  • 1篇1998
  • 1篇1996
  • 1篇1994
  • 2篇1993
  • 3篇1992
9 条 记 录,以下是 1-8
排序方式:
YBCO超导薄膜的XRD分析
1992年
本文介绍了用X射线衍射分析超导YBCO薄膜的几个方法,其中包括:膜与衬底的取向关系,晶格失配度,晶粒大小,微观应变和微孪晶的分析方法,提出了一个表征微孪品强弱的参量。
郝建民温业礼张世敏
关键词:衍射超导体X辐射
子晶格干涉畴尺寸不同对X射线衍射积分宽度与积分强度的影响
1994年
研究了子晶格干涉畴尺寸不同情况下的X射线衍射问题,给出了衍射峰积分宽度与子晶格干涉畴尺寸的关系表达式,证明出子晶格干涉畴尺寸不同不影响X射线衍射各峰的相对积分强度,提供了一种结构缺陷的分析方法。
郝建民陈济舟张世敏
关键词:多晶X射线衍射积分
碲镉汞晶体完整性研究
张世敏李贵全
关键词:完整晶体单晶生长半导体材料
电解电容器用高纯铝箔晶粒择优取向测量及表述新方法
1992年
本文提出了电解电容器用高纯铝箔晶粒择优取向测量及表述的新方法,引入了表征参量,分析了常规反极图测量的不足之处。这里提供的方法远比极图表述简单,不需专用设备,并且和工艺要求匹配。
郝建民张世敏王利杰李贵全辛克文张继荣
关键词:X射线衍射铝箔
尖晶石类氧化物离子占位与结构参数及X射线衍射强度的关系被引量:1
1993年
本文通过对已知的尖晶石晶体结构几何关系的分析,给出了结构微变化和结构参数与离子半径间的关系式。并且研究了尖晶石类氧化物结构微变化与X射线衍射强度的关系,给出了特征关系式。
郝建民陈济舟张世敏辛克文褚连青
关键词:氧化物尖晶石晶体结构结构参数
碲镉汞晶体质量快速评价及X射线衍射仪对完全未知晶向晶片的定向技术
1992年
本文提出一种用X射线衍射仪和样品旋转附件对碲镉汞结晶质量快速评价及对完全未知晶向晶片定向的方法,通过与双衍射摆动曲线法比较,证明该法是可行的。
郝建民张世敏
关键词:碲镉汞X射线衍射
X射线Φ扫描峰宽判据
1996年
本文从行射几何出发,提出了判断X射线Φ扫描峰宽的判据,并用实验数据对其进行了验证。实验结果还表明:Soller狭缝角孔径过大是产生X射线Φ扫描仪器宽度的主要原因。
郝建民温业礼张世敏王良
关键词:判据衍射
X射线双晶衍射在微波半导体器件中的应用被引量:2
1998年
通过X射线动力学理论计算的晶体摆动曲线与测试实验曲线的比较给出外延薄膜材料的结构,为器件研制工作提供了有用的数据。证明运用X射线动力学理论进行计算机拟合能为薄膜材料成分和厚度提供无损检测手段。
张世敏郝建民
关键词:双晶衍射微波半导体器件
共1页<1>
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