吴立军
- 作品数：3 被引量：6H指数：2
- 供职机构：中国兵器工业集团更多>>
- 发文基金：国防计量科研项目更多>>
- 相关领域：电子电信机械工程理学更多>>
- 双罗兰圆结构光谱仪的光学系统设计被引量：4
- 2022年
- 提出一种基于双罗兰圆光学结构的光谱仪光学系统及其设计方法。其中,200 nm~500 nm光路为常规的罗兰圆光学结构;500 nm~700 nm光路运用凹面光栅第零衍射级次光谱线,利用平面反光镜将谱线射入另一个凹面光栅,实现了双罗兰圆光学结构。根据设计要求及光学系统各个参数之间的相互约束,设计、计算出光学系统各个参数指标,基于Zemax仿真分析,调整光学参数并验证光学系统的可行性。针对平面信号探测器在罗兰圆周上存在像差问题,利用反光镜增添信号探测器的可摆放个数,使像差比初始结构减小4.475μm,光谱仪整体光学结构尺寸小于400 mm×500 mm。仿真结果表明:光谱仪所测的光谱波段范围可达200 nm~700 nm,全波段分辨率达0.4 nm。
- 鲁毅任万杰郭国建由欣然胡国星吴立军孙逊
- 关键词：光谱仪ZEMAX
- 基于光-热-结构模拟的罗兰圆型光谱仪热工况优化设计
- 2023年
- 针对目前紫外光谱仪热工况优化研究缺乏的问题,该文设计出一款探测范围为200 nm~450 nm、全波段分辨率不低于0.2 nm的罗兰圆光谱仪,并耦合光、热、结构模拟对其光室热工况开展优化研究。热仿真结果表明:在无加热、无入口风速下光谱仪底座温度、温差随时间不断增加,难以达到热平衡;优化光室入口风速,发现当入口风速为0.8 m/s时,整体温度降至36.103℃~39.859℃;基于光学器件间的热变形量的计算,光学器件截距总热变形量为0.203 mm;优化加热方式,发现顶层式加热方式最佳,整体温度降至34.241℃~36.139℃,光学器件截距总热变形量降至0.122 mm。对此进行光学仿真,结果表明,优化工况后的罗兰圆光谱仪工作热变形后可清晰分辨出两束波长相差0.2 nm的光束。
- 鲁毅任万杰郭国建由欣然胡国星吴立军孙逊
- 关键词：热分析
- 等离子体发射光谱法测定碳化硅中的游离总硅含量被引量：2
- 2013年
- 针对分光光度法测定游离总硅含量受干扰因素多、测试数据不稳定的缺点，探讨了采用ICP-AES法测定碳化硅中游离总硅含量。采用行星球磨仪对碳化硅样品进行研磨，以硝酸钠、硝酸、氢氟酸作溶剂，采用微波消解法处理样品。选择212．412nm特征谱线并以其强度U）与对应的硅浓度（c）建立校准曲线，硅的质量浓度在10-100μg／mL范围内与特征谱线强度呈良好的线性关系，线性方程为I=233．76c＋86．94，线性相关系数间．997，检出限为0．027μg／mL。测定结果的相对标准偏差为1．35％～2．79%（n=6）。加标回收率为97．6％～108．0％。该法测定碳化硅中游离总硅含量是可行的。
- 柳洪超鲁毅刘霞郭国建吴立军李颖黄辉李本涛徐云霞
- 关键词：碳化硅
