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顾凯

作品数：4 被引量：0H指数：0
供职机构：西安电子科技大学更多>>

合作作者

文献类型

  • 4篇中文专利

主题

  • 2篇诊断功能
  • 2篇统计过程
  • 2篇统计过程控制
  • 2篇截尾
  • 2篇截尾样本
  • 2篇晶圆
  • 2篇供应商
  • 2篇过程控制
  • 2篇哈特
  • 2篇产品合格率
  • 1篇迭代法
  • 1篇均值
  • 1篇控制图
  • 1篇绘制方法
  • 1篇函数
  • 1篇合格率
  • 1篇分布函数
  • 1篇参数估计

机构

  • 4篇西安电子科技...

作者

  • 4篇游海龙
  • 4篇贾新章
  • 4篇顾凯

年份

  • 2篇2018
  • 1篇2016
  • 1篇2015
共 4 条 记 录，以下是 1-4
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排序方式：
利用截尾样本确定产品合格率的方法
本发明公开了一种利用截尾样本确定产品合格率的方法，主要解决现有方法对批量产品合格率检测精度低，工作量大，适用范围小的问题。其实施步骤是：1、获取产品样本；2、确定产品合格的上规范限和下规范限；3、提取产品样本的截尾数据，...
游海龙田文星顾凯贾新章
文献传递
批量加工晶圆的统计过程控制方法
本发明公开了一种批量加工晶圆的统计过程控制的方法，主要解决现有控制图无法对批量加工晶圆实施统计过程控制的问题。其实施步骤是：1、当同一产品在相应加工炉中完成晶圆批量加工后，采集样本数据，获得每个子批的均值和标准偏差；2、...
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利用截尾样本确定产品合格率的方法
本发明公开了一种利用截尾样本确定产品合格率的方法，主要解决现有方法对批量产品合格率检测精度低，工作量大，适用范围小的问题。其实施步骤是：1、获取产品样本；2、确定产品合格的上规范限和下规范限；3、提取产品样本的截尾数据，...
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批量加工晶圆的统计过程控制方法
本发明公开了一种批量加工晶圆的统计过程控制的方法，主要解决现有控制图无法对批量加工晶圆实施统计过程控制的问题。其实施步骤是：1、当同一产品在相应加工炉中完成晶圆批量加工后，采集样本数据，获得每个子批的均值和标准偏差；2、...
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