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基于部分重构的SRAM型FPGA单粒子翻转模拟被引量：3: 2015年; 介绍了一种基于部分重构技术的SRAM型FPGA单粒子翻转模拟方法.针对SRAM型FPGA的单粒子翻转特性,建立了一种能够模拟不同线性能量转移(LET)值和注量率(Flux)重离子入射的故障注入模型.该模拟方法可用于对SRAM型FPGA应用电路采用的抗辐照加固效果进行定量预评估,验证不同加固方案的有效性,同时还可减少辐照试验的次数,降低试验成本.基于Virtex-4SRAM型FPGA,针对三模冗余(TMR)的单粒子翻转加固方法进行了定量评估.评估试验结果表明,该方法较好地模拟了入射粒子LET值和系统电路失效率之间的关系,验证了三模冗余加固方法的有效性.; 李林徐宇卢凌云贾海涛蔡刚李悦杨海钢

一种基于辐照试验环境模拟的SRAM型FPGA测试方法: 本发明提供了一种基于辐照试验环境模拟的SRAM型FPGA测试方法，对采用SRAM型FPGA实现的电路进行故障注入，通过持续向电路中注入随机地址和随机类型的单粒子翻转故障，模拟地面辐照试验中入射粒子LET值、注量率Flux...; 杨海钢李林蔡刚贾海涛李悦卢凌云徐宇; 文献传递

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李林