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刘明军

作品数：3 被引量：0H指数：0
供职机构：中国电子科技集团公司第四十一研究所更多>>
相关领域：电子电信更多>>

合作作者

文献类型

  • 2篇专利
  • 1篇期刊文章

领域

  • 1篇电子电信

主题

  • 2篇嵌入式
  • 2篇嵌入式测试
  • 2篇测试性
  • 1篇电子设备
  • 1篇信号
  • 1篇信息获取
  • 1篇信息获取技术
  • 1篇硬软件
  • 1篇上位机
  • 1篇上位机通信
  • 1篇专用芯片
  • 1篇位置信号
  • 1篇线宽
  • 1篇芯片
  • 1篇工装
  • 1篇辅助设计
  • 1篇钢制
  • 1篇PHM
  • 1篇BIT
  • 1篇测试性设计

机构

  • 3篇中国电子科技...

作者

  • 3篇刘明军
  • 3篇李智
  • 1篇周靖宇
  • 1篇邹芳宁
  • 1篇郭荣斌
  • 1篇夏磊

传媒

  • 1篇电子世界

年份

  • 2篇2018
  • 1篇2016
共 3 条 记 录，以下是 1-3
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排序方式：
基于专用芯片的电路模块嵌入式测试信息获取技术
2016年
本文提出一种基于专用芯片的数字、模拟和射频微波电路嵌入式测试信息获取方法,作为装备故障预测与健康管理(PHM)最为基础的数据采集的一种手段,解决装备中测试性设计不足或各种BIT电路消耗资源较多、连接复杂、信息获取困难等难题。文中介绍了数字、模拟、射频微波电路嵌入式测试专用芯片的设计思路及利用其进行嵌入式测试硬件与软件设计方法,最后对嵌入式测试设计进行了验证。
李智刘明军邹芳宁
关键词：嵌入式测试PHMBIT信息获取测试性设计
一种便捷的PXIe模块调试工装
本发明公开了一种便捷的PXIe模块调试工装，包括：工装板卡，所述工装板卡一端设有能够与PXIe机箱背板插座对接的第一插座，所述工装板卡另一端设有能够与待调试PXIe模块进行对接的第二插座；所述第一插座与第二插座之间一一对...
刘明军李智唐建立郭荣斌杨成
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一种适用于电子设备的嵌入式测试单元装置及方法
本发明公开了一种适用于电子设备的嵌入式测试单元装置及方法，包括标准数字BIT芯片、标准模拟BIT芯片及射频微波标准BIT芯片；标准模拟BIT芯片和所述射频微波标准BIT芯片采集的信号都传送到所述标准数字BIT芯片，所述标...
周靖宇刘明军夏磊李智陈长乐
文献传递
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