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顾晓春

作品数：9 被引量：0H指数：0
供职机构：中国电子科技集团公司第五十五研究所更多>>
相关领域：自动化与计算机技术更多>>

合作作者

文献类型

  • 9篇中文专利

领域

  • 2篇自动化与计算...

主题

  • 5篇芯片
  • 4篇梁式引线
  • 4篇二极管
  • 2篇导体
  • 2篇低温度系数
  • 2篇电极
  • 2篇电容
  • 2篇双针
  • 2篇同质结
  • 2篇器件芯片
  • 2篇微波测试
  • 2篇温度系数
  • 2篇墨点
  • 2篇绝缘
  • 2篇绝缘层
  • 2篇空气桥
  • 2篇坏点
  • 2篇半导体
  • 2篇半导体薄膜
  • 2篇硅

机构

  • 9篇中国电子科技...

作者

  • 9篇顾晓春
  • 5篇王霄
  • 5篇曹越
  • 4篇李熙华
  • 2篇张龙
  • 2篇薛爱杰
  • 2篇杨勇
  • 1篇蔡静

年份

  • 1篇2022
  • 1篇2020
  • 1篇2019
  • 4篇2018
  • 2篇2016
共 9 条 记 录，以下是 1-9
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排序方式：
一种AlGaAs梁式引线PIN二极管及其制备方法
本发明是一种AlGaAs梁式引线PIN二极管及其制备方法，其特征在于，它是采用P<Sup>+</Sup>-Al<Sub>0.3</Sub>Ga<Sub>0.7</Sub>As/I-GaAs/N<Sup>+</Sup>-G...
李熙华顾晓春王霄
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一种硅台面二极管的玻璃钝化方法
本发明公开了一种硅台面二极管的玻璃钝化方法，依次包括如下步骤：玻璃浆料的配制、玻璃涂覆、多余台顶玻璃清除、玻璃烧结和成型的步骤，本发明通过优化玻璃浆料的配制比例，采取粘除法清除台顶玻璃，之后再进行玻璃烧结的工艺，在达到理...
曹越顾晓春薛爱杰
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内串联结构二极管管堆
本发明涉及一种内串联结构二极管管堆，包括金属陶瓷管壳、基板和二极管芯片；其中，基板具有多个独立的金属互联模块，安装在金属陶瓷管壳上，每两个二极管芯片叠层串联构成回路装配在基板上，金属陶瓷管壳内部集成多个独立的回路。优点：...
曹越王霄姜成名蔡静王钊胡永军施传贵顾晓春
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一种硅台面二极管的玻璃钝化方法
本发明公开了一种硅台面二极管的玻璃钝化方法，依次包括如下步骤：玻璃浆料的配制、玻璃涂覆、多余台顶玻璃清除、玻璃烧结和成型的步骤，本发明通过优化玻璃浆料的配制比例，采取粘除法清除台顶玻璃，之后再进行玻璃烧结的工艺，在达到理...
曹越顾晓春薛爱杰
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一种AlGaAs梁式引线PIN二极管及其制备方法
本发明是一种AlGaAs梁式引线PIN二极管及其制备方法，其特征在于，它是采用P<Sup>+</Sup>‑Al<Sub>0.3</Sub>Ga<Sub>0.7</Sub>As/I‑GaAs/N<Sup>+</Sup>‑G...
李熙华顾晓春王霄
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梁式引线两端器件芯片的自动测试方法
本发明涉及一种梁式引线两端器件芯片的自动测试方法，包括：(1)测试探卡接入半导体自动测试探针台；(2)载入被测晶片，调直，设置探针台测试参数，设置加电系统测试参数；(3)ATE自动测试，处理数据，输出MAP图，获得测试B...
王钊曹越李熙华施传贵顾晓春
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一种高电容密度的MIS芯片电容
本发明提出的是一种高电容密度的MIS芯片电容，包括重掺杂衬底，在重掺杂衬底下方设有背面多层金属，在重掺杂衬底上表面部分区域设有深沟槽阵列，深沟槽阵列上表面和重掺杂衬底上表面部分区域设有绝缘层，绝缘层上表面部分区域设有填充...
汤寅张龙杨党利姚伟明王霄顾晓春杨勇
梁式引线两端器件芯片的自动测试方法
本发明涉及一种梁式引线两端器件芯片的自动测试方法，包括：(1)测试探卡接入半导体自动测试探针台；(2)载入被测晶片，调直，设置探针台测试参数，设置加电系统测试参数；(3)ATE自动测试，处理数据，输出MAP图，获得测试B...
王钊曹越李熙华施传贵顾晓春
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一种高电容密度的MIS芯片电容
本发明提出的是一种高电容密度的MIS芯片电容，包括重掺杂衬底，在重掺杂衬底下方设有背面多层金属，在重掺杂衬底上表面部分区域设有深沟槽阵列，深沟槽阵列上表面和重掺杂衬底上表面部分区域设有绝缘层，绝缘层上表面部分区域设有填充...
汤寅张龙杨党利姚伟明王霄顾晓春杨勇
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