刘炎华
- 作品数：29 被引量：26H指数：4
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- 相关领域：电子电信自动化与计算机技术文化科学更多>>
- 基于蚁群算法的低成本测试矢量集组合与调度
- 在大规模SoC芯片量产测试中,昂贵的自动测试设备导致了测试成本不断提升.对于单颗芯片而言,其测试成本主要由测试时间来决定,因此在保证测试质量的前提下缩短测试时间是降低测试成本的有效途径之一.SoC通常由众多IP核组成,每...
- 刘炎华蒋斌孙海燕孙玲
- 关键词：大规模集成电路成本控制蚁群算法
- 文献传递
- 基于片外信号源的SoC低成本测试解决方案
- 2012年
- 随着SoC芯片集成度和复杂度的不断提高,其测试变得越来越复杂,测试成本也越来越高,如何降低过高的测试成本也逐渐成为研究的热点。卫星数字电视信道接收芯片作为机顶盒关键芯片之一,对低成本测试的要求也越来越迫切。文章针对某卫星数字电视信道接收芯片,通过分析该芯片的内部模块功能,采用片外信号源方法设计该芯片的低成本测试方案,并在自动测试系统T6575上实现。实际生产结果表明,该方法能极大降低芯片测试成本。
- 钟伟宏刘炎华孙玲
- 关键词：片上系统自动测试系统
- 面向智能交通通信的“数字集成电路设计”课程教学实践研究
- 2013年
- 面向智能交通通信的"数字集成电路设计"课程是智能交通专业和微电子学与固体电子学专业的交叉课程。本文以智能高速交通通信系统中的数字滤波器FIR作为教学实验平台,利用Matlab、Modelsim等仿真软件开发从算法设计到集成电路设计的虚拟实验平台,使学生理解从系统原理、算法建模到数字集成电路设计的先进设计方法,从内容和方法两方面满足社会对学生能力的要求。
- 金丽刘炎华殷晓敏
- 关键词：智能交通数字滤波器MODELSIMMATLAB
- 电气组件中的键合线的仿真测试方法及存储介质和设备
- 本发明实施例提供了一种电气组件中的键合线的仿真测试方法，包括：生成电气组件的物理仿真模型；以第一导线朝第二导线方向的结束端为起始划分线，以第二导线朝第一导线方向的结束端为终止划分线，将仿真模型划分为头部分、中间部分和尾部...
- 孙海燕孙玲赵继聪刘炎华杨玲玲成秀清孙文俊
- 符合EPC C1 G2标准的UHF RFID阅读器数字基带ASIC实现
- 2010年
- 为了实现UHF RFID单芯片阅读器,提出了一种UHF RFID阅读器数字基带的电路结构。该数字基带基于EPC Global Class1 Gen2标准,对PIE编码、升余弦滤波器、希尔伯特滤波器、CRC5/16校验单元、FIR和IIR信道滤波器、采样电路、FM0译码、碰撞检测、控制单元等模块进行算法级、RTL级、网表级和物理级版图设计,后仿各项功能正确,符合系统要求。按照标准ASIC设计流程进行物理设计实现,并采用IBM 0.13μm 8金属的RF数模混合工艺流片。设计的RFID数字基带系统约27万门,面积为3 mm×3 mm,可应用于单芯片RFID阅读器。
- 刘静顾彬陈亦灏张润曦刘炎华蒋颖丹赖宗声
- 关键词：GEN2超高频射频识别数字基带
- 一种用于片上网络的异步共享FIFO设计被引量：4
- 2013年
- 针对片上网络(NoC),本文提出一种能被多个输入端口共享的新型异步FIFO结构.与传统FIFO结构相比,共享FIFO能提高片上网络FIFO单元的利用率.实验结果表明,采用共享FIFO结构片上网络吞吐量和平均延时较传统FIFO结构片上网络有着明显改善.
- 刘炎华孙玲赖宗声
- 关键词：片上网络吞吐量
- 射频识别阅读器数字基带系统的译码模块
- 本发明公开了一种射频识别阅读器数字基带系统的译码模块，该模块含四个单元：前同步码检测单元、译码单元、标签响应计数单元和碰撞检测处理单元。在传统的译码电路基础上加入碰撞检测处理电路，将原本需要数字基带系统处理器其他模块完成...
- 刘静陈亦灏顾彬刘炎华张润曦赖宗声蒋颖丹李宝将张小军李小进田应洪
- 文献传递
- 基于片外信号源的SOC低成本测试解决方案
- 随着SOC芯片集成度和复杂度的不断提高，其测试变得越来越复杂，测试成本也越来越高。按照目前的发展趋势，测试成本将有可能超过芯片自身的设计和制造成本，如何降低过高的测试成本也逐渐成为研究的热点。本文基于片外信号源方法提出了...
- 刘炎华钟伟宏孙玲
- 关键词：片上系统自动测试系统
- 文献传递网络资源链接
- 提高高速移动OFDM系统同步准确性的方法
- 本发明公开了一种提高高速移动OFDM系统同步准确性的方法，包括：将无线局域网协议帧结构中的短训练序列进行预加重；根据预加重后的短训练序列与无线局域网协议帧结构中长训练序列确定同步位置。本发明能够提高对抗信道快速时间选择性...
- 金婕彭飞夏峻刘炎华孙士民
- 文献传递
- 大规模数字集成电路测试算法研究与分析
- 数字集成电路是当今发展最快的技术领域之一。随着VLSI技术进入亚微米和深亚微米时代，电路日趋复杂，集成度日益增高，由此导致的数字集成电路复杂性急剧提高。与此同时，人们对数字集成电路的可靠性要求也越来越高，数字集成电路的测...
- 刘炎华
- 关键词：数字集成电路电路测试
- 文献传递
