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韩旭
作品数:
2
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供职机构:
通用电气公司
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相关领域:
文化科学
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合作作者
谢广平
通用电气公司
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中文专利
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文化科学
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机构
2篇
通用电气公司
作者
2篇
谢广平
2篇
韩旭
年份
1篇
2019
1篇
2016
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用来测量几何特征的测量系统和测量方法
本发明公开了用来测量几何特征的测量系统和测量方法。该测量系统包括:发光单元,用来发出准直光束;前透镜,用来反射部分所述准直光束来发射结构光的前聚焦光环至被测对象来获得来自所述被测对象的前反射光环,并且用来允许部分准直光束...
韩旭
谢广平
凯文·乔治·哈丁
约翰·布兰登·拉弗伦
用来测量几何特征的测量系统和测量方法
本发明公开了用来测量几何特征的测量系统和测量方法。该测量系统包括:发光单元,用来发出准直光束;前透镜,用来反射部分所述准直光束来发射结构光的前聚焦光环至被测对象来获得来自所述被测对象的前反射光环,并且用来允许部分准直光束...
韩旭
谢广平
凯文·乔治·哈丁
约翰·布兰登·拉弗伦
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