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尚砚娜

作品数:1 被引量:0H指数:0
供职机构:北京光电技术研究所更多>>

文献类型

  • 1篇中文专利

主题

  • 1篇映射
  • 1篇映射关系
  • 1篇世界坐标系
  • 1篇图像
  • 1篇图像信息
  • 1篇坐标系
  • 1篇建筑
  • 1篇建筑物
  • 1篇建筑物表面
  • 1篇目标点

机构

  • 1篇北京光电技术...

作者

  • 1篇蔡友发
  • 1篇赵岩
  • 1篇石晶欣
  • 1篇尚砚娜
  • 1篇朱君尧

年份

  • 1篇2016
1 条 记 录,以下是 1-1
排序方式:
建筑物表面缺陷检测方法及系统
本发明提供一种建筑物表面缺陷检测方法及系统,该方法包括:根据建筑物上的至少两个目标点在第一架设坐标系下的直角坐标和在世界坐标系下的世界坐标,确定第一映射关系,该第一映射关系为空间任意一点在第一架设坐标系下的直角坐标与在所...
尚砚娜石晶欣赵岩蔡友发朱君尧
文献传递
共1页<1>
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