您的位置： 专家智库 > >

冯玉杰

作品数：3 被引量：0H指数：0
供职机构：西安电子科技大学更多>>
相关领域：自动化与计算机技术电子电信更多>>

合作作者

文献类型

  • 2篇专利
  • 1篇学位论文

领域

  • 1篇电子电信
  • 1篇自动化与计算...

主题

  • 3篇图像
  • 2篇点目标
  • 2篇虚警
  • 2篇算法复杂度
  • 2篇复杂度
  • 2篇RADON变...
  • 1篇电路
  • 1篇预处理
  • 1篇支持向量
  • 1篇支持向量机
  • 1篇图像目标
  • 1篇图像特征
  • 1篇图像预处理
  • 1篇逆变换
  • 1篇向量
  • 1篇向量机
  • 1篇极大值
  • 1篇集成电路
  • 1篇IC

机构

  • 3篇西安电子科技...

作者

  • 3篇冯玉杰
  • 2篇周凯
  • 2篇付小宁
  • 2篇傅艳霞
  • 2篇陶勇

年份

  • 1篇2018
  • 2篇2015
共 3 条 记 录，以下是 1-3
全选 清除 导出
排序方式：
基于局部标准差和Radon变换的目标检测方法
本发明公开了一种基于局部标准差和拉东Radon变换的目标检测方法。其步骤为：(1)输入待检测彩色图像；(2)图像预处理；(3)获得不同灰度背景轮廓图像；(4)差分运算；(5)拉东Radon变换；(6)修正极大值曲线；(7...
周凯付小宁冯玉杰陶勇傅艳霞
文献传递
基于局部标准差和Radon变换的目标检测方法
本发明公开了一种基于局部标准差和拉东Radon变换的目标检测方法。其步骤为：(1)输入待检测彩色图像；(2)图像预处理；(3)获得不同灰度背景轮廓图像；(4)差分运算；(5)拉东Radon变换；(6)修正极大值曲线；(7...
周凯付小宁冯玉杰陶勇傅艳霞
文献传递
基于特征匹配的IC缺陷检测
随着精密加工技术、化学机械抛光技术和分层互联技术的快速发展，集成电路(IC)生产技术向着高精度、高速、高产量、高可靠性及更长寿命的趋势发展。然而，在集成电路生产或使用过程中缺陷是不可避免的。所以如何准确地自动检测出集成电...
冯玉杰
关键词：集成电路图像特征支持向量机
全选 清除 导出
共1页<1>
聚类工具0